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  • Dissertação (Mestrado)

    Influência do crescimento epitaxial seletivo (SEG) em transistores SOI de porta tripla de canal N tensionado (2011)

    Pacheco, Vinicius Heltai; Martino, João Antonio (Orientador)

    Unidade: EP

    Subjects: TRANSISTORES, MICROELETRÔNICA

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      PACHECO, Vinicius Heltai. Influência do crescimento epitaxial seletivo (SEG) em transistores SOI de porta tripla de canal N tensionado. 2011. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2011. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-26082011-145154/. Acesso em: 30 set. 2024.

    • APA

      Pacheco, V. H. (2011). Influência do crescimento epitaxial seletivo (SEG) em transistores SOI de porta tripla de canal N tensionado (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-26082011-145154/

    • NLM

      Pacheco VH. Influência do crescimento epitaxial seletivo (SEG) em transistores SOI de porta tripla de canal N tensionado [Internet]. 2011 ;[citado 2024 set. 30 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-26082011-145154/

    • Vancouver

      Pacheco VH. Influência do crescimento epitaxial seletivo (SEG) em transistores SOI de porta tripla de canal N tensionado [Internet]. 2011 ;[citado 2024 set. 30 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-26082011-145154/

  • Artigo de periodico

    Impact of SEG on uniaxially strained MuGFET performance (2011)

    Agopian, Paula Ghedini Der ; Pacheco, Vinicius Heltai; Martino, João Antonio ; Simoen, Eddy ; Claeys, Cor

    Source: Solid-state electronics. Unidade: EP

    Assunto: BAIXA TEMPERATURA

    Acesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      AGOPIAN, Paula Ghedini Der et al. Impact of SEG on uniaxially strained MuGFET performance. Solid-state electronics, v. 59, n. 1, p. 13-17, 2011Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.sse.2011.01.009. Acesso em: 30 set. 2024.

    • APA

      Agopian, P. G. D., Pacheco, V. H., Martino, J. A., Simoen, E., & Claeys, C. (2011). Impact of SEG on uniaxially strained MuGFET performance. Solid-state electronics, 59( 1), 13-17. doi:10.1016/j.sse.2011.01.009

    • NLM

      Agopian PGD, Pacheco VH, Martino JA, Simoen E, Claeys C. Impact of SEG on uniaxially strained MuGFET performance [Internet]. Solid-state electronics. 2011 ; 59( 1): 13-17.[citado 2024 set. 30 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.sse.2011.01.009

    • Vancouver

      Agopian PGD, Pacheco VH, Martino JA, Simoen E, Claeys C. Impact of SEG on uniaxially strained MuGFET performance [Internet]. Solid-state electronics. 2011 ; 59( 1): 13-17.[citado 2024 set. 30 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.sse.2011.01.009
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