ReP USP - Resultado da busca

Trabalho de evento-resumo
Tecnica de interferometria de speckle-shearing aplicada a metrologia optica (1994)
Rodrigues, E; Muramatsu, Mikiya; Lunazzi, J J
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada. Unidade: IF
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
RODRIGUES, E e MURAMATSU, Mikiya e LUNAZZI, J J. Tecnica de interferometria de speckle-shearing aplicada a metrologia optica. 1994, Anais.. Sao Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica, 1994. . Acesso em: 07 out. 2024.
APA
Rodrigues, E., Muramatsu, M., & Lunazzi, J. J. (1994). Tecnica de interferometria de speckle-shearing aplicada a metrologia optica. In Resumos. Sao Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica.
NLM
Rodrigues E, Muramatsu M, Lunazzi JJ. Tecnica de interferometria de speckle-shearing aplicada a metrologia optica. Resumos. 1994 ;[citado 2024 out. 07 ]
Vancouver
Rodrigues E, Muramatsu M, Lunazzi JJ. Tecnica de interferometria de speckle-shearing aplicada a metrologia optica. Resumos. 1994 ;[citado 2024 out. 07 ]
Trabalho de evento
Estudo de deformacoes usando tecnica de shearografia (1993)
Rodrigues, E; Muramatsu, Mikiya; Lunazzi, J J
Source: Anais: Grupo de Optica. Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada. Unidade: IF
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
RODRIGUES, E e MURAMATSU, Mikiya e LUNAZZI, J J. Estudo de deformacoes usando tecnica de shearografia. 1993, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica, 1993. . Acesso em: 07 out. 2024.
APA
Rodrigues, E., Muramatsu, M., & Lunazzi, J. J. (1993). Estudo de deformacoes usando tecnica de shearografia. In Anais: Grupo de Optica. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica.
NLM
Rodrigues E, Muramatsu M, Lunazzi JJ. Estudo de deformacoes usando tecnica de shearografia. Anais: Grupo de Optica. 1993 ;[citado 2024 out. 07 ]
Vancouver
Rodrigues E, Muramatsu M, Lunazzi JJ. Estudo de deformacoes usando tecnica de shearografia. Anais: Grupo de Optica. 1993 ;[citado 2024 out. 07 ]
Trabalho de evento-resumo
Estudo de medida de deformacao pelo uso da shearografia (1993)
Rodrigues, E; Muramatsu, Mikiya; Lunazzi, J J
Source: Programa e Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada. Unidade: IF
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
RODRIGUES, E e MURAMATSU, Mikiya e LUNAZZI, J J. Estudo de medida de deformacao pelo uso da shearografia. 1993, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica, 1993. . Acesso em: 07 out. 2024.
APA
Rodrigues, E., Muramatsu, M., & Lunazzi, J. J. (1993). Estudo de medida de deformacao pelo uso da shearografia. In Programa e Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica.
NLM
Rodrigues E, Muramatsu M, Lunazzi JJ. Estudo de medida de deformacao pelo uso da shearografia. Programa e Resumos. 1993 ;[citado 2024 out. 07 ]
Vancouver
Rodrigues E, Muramatsu M, Lunazzi JJ. Estudo de medida de deformacao pelo uso da shearografia. Programa e Resumos. 1993 ;[citado 2024 out. 07 ]
Artigo de periodico
Testing of printed circuit board solder joints by speckle correlation techniques (1990)
Muramatsu, Mikiya; Lunazzi, J J
Source: Optics and Laser Technology. Unidade: IF
Assunto: ÓPTICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MURAMATSU, Mikiya e LUNAZZI, J J. Testing of printed circuit board solder joints by speckle correlation techniques. Optics and Laser Technology, v. 22, n. 4 , p. 260-2, 1990Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/0030-3992(90)90057-b. Acesso em: 07 out. 2024.
APA
Muramatsu, M., & Lunazzi, J. J. (1990). Testing of printed circuit board solder joints by speckle correlation techniques. Optics and Laser Technology, 22( 4 ), 260-2. doi:10.1016/0030-3992(90)90057-b
NLM
Muramatsu M, Lunazzi JJ. Testing of printed circuit board solder joints by speckle correlation techniques [Internet]. Optics and Laser Technology. 1990 ;22( 4 ): 260-2.[citado 2024 out. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1016/0030-3992(90)90057-b
Vancouver
Muramatsu M, Lunazzi JJ. Testing of printed circuit board solder joints by speckle correlation techniques [Internet]. Optics and Laser Technology. 1990 ;22( 4 ): 260-2.[citado 2024 out. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1016/0030-3992(90)90057-b
Parte de monografia/livro
Recent developments on speackle pattern correlation by photographic means (1987)
Lunazzi, J J; Muramatsu, Mikiya
Source: Optical Metrology. Unidade: IF
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
LUNAZZI, J J e MURAMATSU, Mikiya. Recent developments on speackle pattern correlation by photographic means. Optical Metrology. Tradução . New York: Plenun Press, 1987. . . Acesso em: 07 out. 2024.
APA
Lunazzi, J. J., & Muramatsu, M. (1987). Recent developments on speackle pattern correlation by photographic means. In Optical Metrology. New York: Plenun Press.
NLM
Lunazzi JJ, Muramatsu M. Recent developments on speackle pattern correlation by photographic means. In: Optical Metrology. New York: Plenun Press; 1987. [citado 2024 out. 07 ]
Vancouver
Lunazzi JJ, Muramatsu M. Recent developments on speackle pattern correlation by photographic means. In: Optical Metrology. New York: Plenun Press; 1987. [citado 2024 out. 07 ]

USP Schools

ReP

Filtros