Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
ABNT
FERREIRA, Fábio Furlan et al. Estrutura e propriedades eletrocrômicas de filmes finos de óxido de vanádio depositados por rf-sputtering. 1998, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 1998. . Acesso em: 02 out. 2024.APA
Ferreira, F. F., Tabacniks, M. H., Fantini, M. C. de A., Lourenco, A., & Gorenstein, A. (1998). Estrutura e propriedades eletrocrômicas de filmes finos de óxido de vanádio depositados por rf-sputtering. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.NLM
Ferreira FF, Tabacniks MH, Fantini MC de A, Lourenco A, Gorenstein A. Estrutura e propriedades eletrocrômicas de filmes finos de óxido de vanádio depositados por rf-sputtering. Resumos. 1998 ;[citado 2024 out. 02 ]Vancouver
Ferreira FF, Tabacniks MH, Fantini MC de A, Lourenco A, Gorenstein A. Estrutura e propriedades eletrocrômicas de filmes finos de óxido de vanádio depositados por rf-sputtering. Resumos. 1998 ;[citado 2024 out. 02 ]