ReP USP - Resultado da busca

Artigo de periodico
Sample preparation method for scanning force microscopy (2001)
Jankov, Ivan; Szente, R N; Lejbman, Iuda Dawid Goldman Vel; Paez Carreño, Marcelo Nelson ; Swart, Jacobus Willibrordus; Landers, R
Source: Brazilian Journal of Physics. Unidade: IF
Subjects: MICROSCOPIA ELETRÔNICA, MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
JANKOV, Ivan et al. Sample preparation method for scanning force microscopy. Brazilian Journal of Physics, v. 31, n. 4, p. 552-561, 2001Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1590/s0103-97332001000400005. Acesso em: 23 out. 2025.
APA
Jankov, I., Szente, R. N., Lejbman, I. D. G. V., Paez Carreño, M. N., Swart, J. W., & Landers, R. (2001). Sample preparation method for scanning force microscopy. Brazilian Journal of Physics, 31( 4), 552-561. doi:10.1590/s0103-97332001000400005
NLM
Jankov I, Szente RN, Lejbman IDGV, Paez Carreño MN, Swart JW, Landers R. Sample preparation method for scanning force microscopy [Internet]. Brazilian Journal of Physics. 2001 ; 31( 4): 552-561.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1590/s0103-97332001000400005
Vancouver
Jankov I, Szente RN, Lejbman IDGV, Paez Carreño MN, Swart JW, Landers R. Sample preparation method for scanning force microscopy [Internet]. Brazilian Journal of Physics. 2001 ; 31( 4): 552-561.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1590/s0103-97332001000400005
Trabalho de evento-anais periodico
Surface modification of materials for plasma torches (2001)
Jankov, Ivan; Szente, Roberto Nunes; Lejbman, Iuda Dawid Goldman Vel
Source: Proceedings. Conference titles: Congress of the Brazilian Society for Microscopy and Microanalysis. Unidade: IF
Subjects: MICROSCOPIA ELETRÔNICA, MATERIAIS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
JANKOV, Ivan e SZENTE, Roberto Nunes e LEJBMAN, Iuda Dawid Goldman Vel. Surface modification of materials for plasma torches. Proceedings. Rio de Janeiro: The Committee. . Acesso em: 23 out. 2025. , 2001
APA
Jankov, I., Szente, R. N., & Lejbman, I. D. G. V. (2001). Surface modification of materials for plasma torches. Proceedings. Rio de Janeiro: The Committee.
NLM
Jankov I, Szente RN, Lejbman IDGV. Surface modification of materials for plasma torches. Proceedings. 2001 ; 1 325-326.[citado 2025 out. 23 ]
Vancouver
Jankov I, Szente RN, Lejbman IDGV. Surface modification of materials for plasma torches. Proceedings. 2001 ; 1 325-326.[citado 2025 out. 23 ]
Dissertação (Mestrado)
Implantação iônica controlada para eletrodos de tochas de plasma (2000)
Jankov, Ivan; Szente, Roberto Nunes (Orientador)
Unidade: IF
Assunto: FÍSICA DE PLASMAS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
JANKOV, Ivan. Implantação iônica controlada para eletrodos de tochas de plasma. 2000. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2000. . Acesso em: 23 out. 2025.
APA
Jankov, I. (2000). Implantação iônica controlada para eletrodos de tochas de plasma (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo.
NLM
Jankov I. Implantação iônica controlada para eletrodos de tochas de plasma. 2000 ;[citado 2025 out. 23 ]
Vancouver
Jankov I. Implantação iônica controlada para eletrodos de tochas de plasma. 2000 ;[citado 2025 out. 23 ]
Artigo de periodico
Principles of the Kelvin probe force microscopy (2000)
Jankov, Ivan; Lejbman, Iuda Dawid Goldman Vel; Szente, Roberto Nunes
Source: Revista Brasileira de Ensino de Física. Unidade: IF
Assunto: FÍSICA (ESTUDO E ENSINO)
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
JANKOV, Ivan e LEJBMAN, Iuda Dawid Goldman Vel e SZENTE, Roberto Nunes. Principles of the Kelvin probe force microscopy. Revista Brasileira de Ensino de Física, v. 22, n. 4, p. 503-509, 2000Tradução . . Disponível em: http://www.sbf.if.usp.br/WWW_pages/Journals/RBEF/Vol22/Num4/v22_503.pdf. Acesso em: 23 out. 2025.
APA
Jankov, I., Lejbman, I. D. G. V., & Szente, R. N. (2000). Principles of the Kelvin probe force microscopy. Revista Brasileira de Ensino de Física, 22( 4), 503-509. Recuperado de http://www.sbf.if.usp.br/WWW_pages/Journals/RBEF/Vol22/Num4/v22_503.pdf
NLM
Jankov I, Lejbman IDGV, Szente RN. Principles of the Kelvin probe force microscopy [Internet]. Revista Brasileira de Ensino de Física. 2000 ; 22( 4): 503-509.[citado 2025 out. 23 ] Available from: http://www.sbf.if.usp.br/WWW_pages/Journals/RBEF/Vol22/Num4/v22_503.pdf
Vancouver
Jankov I, Lejbman IDGV, Szente RN. Principles of the Kelvin probe force microscopy [Internet]. Revista Brasileira de Ensino de Física. 2000 ; 22( 4): 503-509.[citado 2025 out. 23 ] Available from: http://www.sbf.if.usp.br/WWW_pages/Journals/RBEF/Vol22/Num4/v22_503.pdf

USP Schools

ReP

Filtros

Authors