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Trabalho de evento-resumo
Crystal growth and defects in zirconium doped 'Bi IND.12'Ti'O IND.20' (2008)
Carvalho, J. F.; Ferreira, K. D.; Amaral, T. M.; Montenegro, R.; Hernandes, Antônio Carlos ; Frejlich, J.
Source: Abstracts. Conference titles: International Conference on Defects in Insulating Materials - ICDIM. Unidade: IFSC
Subjects: CRESCIMENTO DE CRISTAIS, ZIRCÔNIO, FOTOCONDUTIVIDADE
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ABNT
CARVALHO, J. F. et al. Crystal growth and defects in zirconium doped 'Bi IND.12'Ti'O IND.20'. 2008, Anais.. São Cristovão: Universidade Federal de Sergipe, 2008. . Acesso em: 18 nov. 2024.
APA
Carvalho, J. F., Ferreira, K. D., Amaral, T. M., Montenegro, R., Hernandes, A. C., & Frejlich, J. (2008). Crystal growth and defects in zirconium doped 'Bi IND.12'Ti'O IND.20'. In Abstracts. São Cristovão: Universidade Federal de Sergipe.
NLM
Carvalho JF, Ferreira KD, Amaral TM, Montenegro R, Hernandes AC, Frejlich J. Crystal growth and defects in zirconium doped 'Bi IND.12'Ti'O IND.20'. Abstracts. 2008 ;[citado 2024 nov. 18 ]
Vancouver
Carvalho JF, Ferreira KD, Amaral TM, Montenegro R, Hernandes AC, Frejlich J. Crystal growth and defects in zirconium doped 'Bi IND.12'Ti'O IND.20'. Abstracts. 2008 ;[citado 2024 nov. 18 ]
Trabalho de evento-resumo
Photorefractive materials characterization using optical, electrical and photoelectrical techniques (2008)
Frejlich, J.; Montenegro, R.; Santos, T. O. dos; Kumamoto, R.; Carvalho, J. F.; Hernandes, Antônio Carlos
Source: Abstracts. Conference titles: International Conference on Defects in Insulating Materials - ICDIM. Unidade: IFSC
Subjects: ÓPTICA ELETRÔNICA, TERMOLUMINESCÊNCIA, LUMINESCÊNCIA, MATERIAIS CERÂMICOS, CRESCIMENTO DE CRISTAIS, LUMINESCÊNCIA (PROPRIEDADES)
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ABNT
FREJLICH, J. et al. Photorefractive materials characterization using optical, electrical and photoelectrical techniques. 2008, Anais.. São Cristovão: Universidade Federal de Sergipe, 2008. . Acesso em: 18 nov. 2024.
APA
Frejlich, J., Montenegro, R., Santos, T. O. dos, Kumamoto, R., Carvalho, J. F., & Hernandes, A. C. (2008). Photorefractive materials characterization using optical, electrical and photoelectrical techniques. In Abstracts. São Cristovão: Universidade Federal de Sergipe.
NLM
Frejlich J, Montenegro R, Santos TO dos, Kumamoto R, Carvalho JF, Hernandes AC. Photorefractive materials characterization using optical, electrical and photoelectrical techniques. Abstracts. 2008 ;[citado 2024 nov. 18 ]
Vancouver
Frejlich J, Montenegro R, Santos TO dos, Kumamoto R, Carvalho JF, Hernandes AC. Photorefractive materials characterization using optical, electrical and photoelectrical techniques. Abstracts. 2008 ;[citado 2024 nov. 18 ]
Trabalho de evento-resumo
Bulk wavelength-resolved specific photoconductivity measurement and localized detection in photoconductive materials (2007)
Frejlich, J.; Inocente Junior, N. R.; Montenegro, R.; Santos, T. O.; Molina, C.; Rissi, R.; Hernandes, Antônio Carlos ; Mastelaro, Valmor Roberto ; Messaddeq, S.; Messaddeq, Y.; Skripachev, Igor; Carvalho, J. F.; Launay, J. C.
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional da Sociedade Brasileira de Crescimento de Cristais - SBCC. Unidade: IFSC
Subjects: FOTOCONDUTIVIDADE (MEDIÇÃO), ABSORÇÃO DA LUZ, FOTÔNICA
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ABNT
FREJLICH, J. et al. Bulk wavelength-resolved specific photoconductivity measurement and localized detection in photoconductive materials. 2007, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Crescimento de Cristais - SBCC, 2007. . Acesso em: 18 nov. 2024.
APA
Frejlich, J., Inocente Junior, N. R., Montenegro, R., Santos, T. O., Molina, C., Rissi, R., et al. (2007). Bulk wavelength-resolved specific photoconductivity measurement and localized detection in photoconductive materials. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Crescimento de Cristais - SBCC.
NLM
Frejlich J, Inocente Junior NR, Montenegro R, Santos TO, Molina C, Rissi R, Hernandes AC, Mastelaro VR, Messaddeq S, Messaddeq Y, Skripachev I, Carvalho JF, Launay JC. Bulk wavelength-resolved specific photoconductivity measurement and localized detection in photoconductive materials. Resumos. 2007 ;[citado 2024 nov. 18 ]
Vancouver
Frejlich J, Inocente Junior NR, Montenegro R, Santos TO, Molina C, Rissi R, Hernandes AC, Mastelaro VR, Messaddeq S, Messaddeq Y, Skripachev I, Carvalho JF, Launay JC. Bulk wavelength-resolved specific photoconductivity measurement and localized detection in photoconductive materials. Resumos. 2007 ;[citado 2024 nov. 18 ]
Trabalho de evento-anais periodico
Stabilized holographic setup for the real-time continuous measurement of surface vibrational mode patterns (1996)
Frejlich, J.; Carvalho, E.; Freschi, A. A.; Andreeta, José Pedro ; Hernandes, Antônio Carlos ; Carvalho, J. F.; Gallo, Nelson José Heraldo
Source: Proceedings of SPIE. Conference titles: International Conference on Vibration Measurements by Laser Techniques: Advances and Applications. Unidade: IFSC
Subjects: ÓPTICA, FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
FREJLICH, J. et al. Stabilized holographic setup for the real-time continuous measurement of surface vibrational mode patterns. Proceedings of SPIE. Bellingham: International Society for Optical Engineering - SPIE. Disponível em: https://doi.org/10.1117/12.248640. Acesso em: 18 nov. 2024. , 1996
APA
Frejlich, J., Carvalho, E., Freschi, A. A., Andreeta, J. P., Hernandes, A. C., Carvalho, J. F., & Gallo, N. J. H. (1996). Stabilized holographic setup for the real-time continuous measurement of surface vibrational mode patterns. Proceedings of SPIE. Bellingham: International Society for Optical Engineering - SPIE. doi:10.1117/12.248640
NLM
Frejlich J, Carvalho E, Freschi AA, Andreeta JP, Hernandes AC, Carvalho JF, Gallo NJH. Stabilized holographic setup for the real-time continuous measurement of surface vibrational mode patterns [Internet]. Proceedings of SPIE. 1996 ; 2868 205-215.[citado 2024 nov. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1117/12.248640
Vancouver
Frejlich J, Carvalho E, Freschi AA, Andreeta JP, Hernandes AC, Carvalho JF, Gallo NJH. Stabilized holographic setup for the real-time continuous measurement of surface vibrational mode patterns [Internet]. Proceedings of SPIE. 1996 ; 2868 205-215.[citado 2024 nov. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1117/12.248640

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