Romero, Sérgio Antônio; Landgraf, Fernando José Gomes 
; Campos, Marcos Flávio de
Source: Anais. São Paulo, ABM, 2009. Conference titles: Congresso Anual da ABM. Unidade: EP
Subjects: TRATAMENTO TÉRMICO, ALTA TEMPERATURA, MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA
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ABNT
ROMERO, Sérgio Antônio e LANDGRAF, Fernando José Gomes e CAMPOS, Marcos Flávio de. Avaliação dos constituintes microestruturais presentes em imãs de Sm(CoFeCuZr)z por microscopia eletrônica de varredura. 2009, Anais.. São Paulo: ABM, 2009. . Acesso em: 01 out. 2024.APA
Romero, S. A., Landgraf, F. J. G., & Campos, M. F. de. (2009). Avaliação dos constituintes microestruturais presentes em imãs de Sm(CoFeCuZr)z por microscopia eletrônica de varredura. In Anais. São Paulo, ABM, 2009. São Paulo: ABM.NLM
Romero SA, Landgraf FJG, Campos MF de. Avaliação dos constituintes microestruturais presentes em imãs de Sm(CoFeCuZr)z por microscopia eletrônica de varredura. Anais. São Paulo, ABM, 2009. 2009 ;[citado 2024 out. 01 ]Vancouver
Romero SA, Landgraf FJG, Campos MF de. Avaliação dos constituintes microestruturais presentes em imãs de Sm(CoFeCuZr)z por microscopia eletrônica de varredura. Anais. São Paulo, ABM, 2009. 2009 ;[citado 2024 out. 01 ]
