Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
ABNT
CHOQUE, Nilo Maurício Sotomayor et al. Study of porous silicon embedded with II-VI semiconductor compounds by fotoreflectance spectroscopy. 1997, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 1997. . Acesso em: 19 ago. 2024.APA
Choque, N. M. S., Soares, J. A. N. de T., Enderlein, R., Leite, J. R., Belogorokhov, A. I., & Belogorokhova, L. I. (1997). Study of porous silicon embedded with II-VI semiconductor compounds by fotoreflectance spectroscopy. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.NLM
Choque NMS, Soares JAN de T, Enderlein R, Leite JR, Belogorokhov AI, Belogorokhova LI. Study of porous silicon embedded with II-VI semiconductor compounds by fotoreflectance spectroscopy. Resumos. 1997 ;[citado 2024 ago. 19 ]Vancouver
Choque NMS, Soares JAN de T, Enderlein R, Leite JR, Belogorokhov AI, Belogorokhova LI. Study of porous silicon embedded with II-VI semiconductor compounds by fotoreflectance spectroscopy. Resumos. 1997 ;[citado 2024 ago. 19 ]