Determination of porous silicon film parameters by polarized light reflectance measurements (1993)
Basmaji, Pierre; Bagnato, Vanderlei Salvador 
; Grivickas, V; Surdutovich, G I; Vitlina, R
Source: Thin Solid Films. Unidade: IFSC
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA (PROPRIEDADES ELÉTRICAS)
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ABNT
BASMAJI, Pierre et al. Determination of porous silicon film parameters by polarized light reflectance measurements. Thin Solid Films, v. 223, n. 1 , p. 131-6, 1993Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/0040-6090(93)90074-y. Acesso em: 10 nov. 2024.APA
Basmaji, P., Bagnato, V. S., Grivickas, V., Surdutovich, G. I., & Vitlina, R. (1993). Determination of porous silicon film parameters by polarized light reflectance measurements. Thin Solid Films, 223( 1 ), 131-6. doi:10.1016/0040-6090(93)90074-yNLM
Basmaji P, Bagnato VS, Grivickas V, Surdutovich GI, Vitlina R. Determination of porous silicon film parameters by polarized light reflectance measurements [Internet]. Thin Solid Films. 1993 ;223( 1 ): 131-6.[citado 2024 nov. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1016/0040-6090(93)90074-yVancouver
Basmaji P, Bagnato VS, Grivickas V, Surdutovich GI, Vitlina R. Determination of porous silicon film parameters by polarized light reflectance measurements [Internet]. Thin Solid Films. 1993 ;223( 1 ): 131-6.[citado 2024 nov. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1016/0040-6090(93)90074-y
