ReP USP - Resultado da busca

Artigo de periodico
Unsupervised machine learning application to identify single-event transients (SETs) from noise events in MOSFET transistor ionizing radiation effects (2023)
Allegro, Paula Rangel Pestana ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Added, Nemitala ; Medina, Nilberto Heder; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento
Source: Microelectronics Reliability. Unidade: IF
Assunto: RADIAÇÃO IONIZANTE
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ALLEGRO, Paula Rangel Pestana et al. Unsupervised machine learning application to identify single-event transients (SETs) from noise events in MOSFET transistor ionizing radiation effects. Microelectronics Reliability, v. 142, 2023Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.114916. Acesso em: 27 set. 2024.
APA
Allegro, P. R. P., Aguiar, V. Â. P. de, Added, N., Medina, N. H., Macchione, E. L. A., & Alberton, S. G. P. N. (2023). Unsupervised machine learning application to identify single-event transients (SETs) from noise events in MOSFET transistor ionizing radiation effects. Microelectronics Reliability, 142. doi:10.1016/j.microrel.2023.114916
NLM
Allegro PRP, Aguiar VÂP de, Added N, Medina NH, Macchione ELA, Alberton SGPN. Unsupervised machine learning application to identify single-event transients (SETs) from noise events in MOSFET transistor ionizing radiation effects [Internet]. Microelectronics Reliability. 2023 ; 142[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.114916
Vancouver
Allegro PRP, Aguiar VÂP de, Added N, Medina NH, Macchione ELA, Alberton SGPN. Unsupervised machine learning application to identify single-event transients (SETs) from noise events in MOSFET transistor ionizing radiation effects [Internet]. Microelectronics Reliability. 2023 ; 142[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.114916
Trabalho de evento
Heavy Ions Testing of an All-Convolutional Neural Network for Image Classification Evolved by Genetic Algorithms and Implemented on SRAM-Based FPGA (2022)
Benevenuti, Fabio ; Oliveira, Ádria ; Lopes, Israel da Costa ; Kastensmidt, Fernanda ; Medina, Nilberto Heder ; Added, Nemitala ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Guazzelli, Marcilei Aparecida
Conference titles: European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS). Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, RADIAÇÃO IONIZANTE, ELETRÔNICA QUÂNTICA, NANOTECNOLOGIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
BENEVENUTI, Fabio et al. Heavy Ions Testing of an All-Convolutional Neural Network for Image Classification Evolved by Genetic Algorithms and Implemented on SRAM-Based FPGA. 2022, Anais.. New York: IEEE, 2022. Disponível em: https://doi.org/10.1109/RADECS47380.2019.9745650. Acesso em: 27 set. 2024.
APA
Benevenuti, F., Oliveira, Á., Lopes, I. da C., Kastensmidt, F., Medina, N. H., Added, N., et al. (2022). Heavy Ions Testing of an All-Convolutional Neural Network for Image Classification Evolved by Genetic Algorithms and Implemented on SRAM-Based FPGA. In . New York: IEEE. doi:10.1109/RADECS47380.2019.9745650
NLM
Benevenuti F, Oliveira Á, Lopes I da C, Kastensmidt F, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Guazzelli MA. Heavy Ions Testing of an All-Convolutional Neural Network for Image Classification Evolved by Genetic Algorithms and Implemented on SRAM-Based FPGA [Internet]. 2022 ;[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1109/RADECS47380.2019.9745650
Vancouver
Benevenuti F, Oliveira Á, Lopes I da C, Kastensmidt F, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Guazzelli MA. Heavy Ions Testing of an All-Convolutional Neural Network for Image Classification Evolved by Genetic Algorithms and Implemented on SRAM-Based FPGA [Internet]. 2022 ;[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1109/RADECS47380.2019.9745650
Trabalho de evento-anais periodico
Neutron-Induced Radiation Effects in UMOS Transistor (2022)
Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento ; Medina, Nilberto Heder ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Added, Nemitala
Source: Journal of Physics: Conference Series. Conference titles: Brazilian Workshop on Nuclear Physics. Unidade: IF
Assunto: PARTÍCULAS (FÍSICA NUCLEAR)
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ALBERTON, Saulo Gabriel Pereira Nascimento et al. Neutron-Induced Radiation Effects in UMOS Transistor. Journal of Physics: Conference Series. Bristol: IOP Publishing. Disponível em: https://doi.org/10.1088/1742-6596/2340/1/012046. Acesso em: 27 set. 2024. , 2022
APA
Alberton, S. G. P. N., Medina, N. H., Aguiar, V. Â. P. de, & Added, N. (2022). Neutron-Induced Radiation Effects in UMOS Transistor. Journal of Physics: Conference Series. Bristol: IOP Publishing. doi:10.1088/1742-6596/2340/1/012046
NLM
Alberton SGPN, Medina NH, Aguiar VÂP de, Added N. Neutron-Induced Radiation Effects in UMOS Transistor [Internet]. Journal of Physics: Conference Series. 2022 ; 2340[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1088/1742-6596/2340/1/012046
Vancouver
Alberton SGPN, Medina NH, Aguiar VÂP de, Added N. Neutron-Induced Radiation Effects in UMOS Transistor [Internet]. Journal of Physics: Conference Series. 2022 ; 2340[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1088/1742-6596/2340/1/012046
Artigo de periodico
Charge deposition analysis of heavy-ion-induced single-event burnout in low-voltage power VDMOSFET (2022)
Alberton, S. G. ; Aguiar, Vitor^Ângelo Paulino de ; Medina, Nilberto H. ; Added, Nemitala ; Macchione, E L A ; Menegasso, R. ; Cesário, G. J.; Santos, Hellen Cristine ; Scarduelli, V B ; Alcántara-Núñez, J. A.; Guazzelli, M. A.; Santos, R. B. B.; Flechas, D.
Source: Microelectronics Reliability. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, ÍONS PESADOS, SEMICONDUTORES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ALBERTON, S. G. et al. Charge deposition analysis of heavy-ion-induced single-event burnout in low-voltage power VDMOSFET. Microelectronics Reliability, v. 137, 2022Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.microrel.2022.114784. Acesso em: 27 set. 2024.
APA
Alberton, S. G., Aguiar, V. ^Â. P. de, Medina, N. H., Added, N., Macchione, E. L. A., Menegasso, R., et al. (2022). Charge deposition analysis of heavy-ion-induced single-event burnout in low-voltage power VDMOSFET. Microelectronics Reliability, 137. doi:10.1016/j.microrel.2022.114784
NLM
Alberton SG, Aguiar V^ÂP de, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Menegasso R, Cesário GJ, Santos HC, Scarduelli VB, Alcántara-Núñez JA, Guazzelli MA, Santos RBB, Flechas D. Charge deposition analysis of heavy-ion-induced single-event burnout in low-voltage power VDMOSFET [Internet]. Microelectronics Reliability. 2022 ; 137[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.microrel.2022.114784
Vancouver
Alberton SG, Aguiar V^ÂP de, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Menegasso R, Cesário GJ, Santos HC, Scarduelli VB, Alcántara-Núñez JA, Guazzelli MA, Santos RBB, Flechas D. Charge deposition analysis of heavy-ion-induced single-event burnout in low-voltage power VDMOSFET [Internet]. Microelectronics Reliability. 2022 ; 137[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.microrel.2022.114784
Trabalho de evento-anais periodico
Isomeric state in the odd-odd 68Ga nucleus (2022)
Escudeiro, Rafael ; Medina, Nilberto Heder ; Guazzelli, Marcilei Aparecida ; Vasconcellos, Caio Eduardo Cabral de; Oliveira, José Roberto Brandão de ; Allegro, Paula Rangel Pestana ; Núñez, Juan Antonio Alcantara; Ribas, Roberto Vicençotto ; Added, Nemitala ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Scarduelli, Valdir Brunetti ; Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento ; Toufen, Dennis Lozano
Source: Journal of Physics: Conference Series. Conference titles: Brazilian Workshop on Nuclear Physics. Unidade: IF
Assunto: FÍSICA NUCLEAR
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ESCUDEIRO, Rafael et al. Isomeric state in the odd-odd 68Ga nucleus. Journal of Physics: Conference Series. Bristol: IOP Publishing. Disponível em: https://doi.org/10.1088/1742-6596/2340/1/012043. Acesso em: 27 set. 2024. , 2022
APA
Escudeiro, R., Medina, N. H., Guazzelli, M. A., Vasconcellos, C. E. C. de, Oliveira, J. R. B. de, Allegro, P. R. P., et al. (2022). Isomeric state in the odd-odd 68Ga nucleus. Journal of Physics: Conference Series. Bristol: IOP Publishing. doi:10.1088/1742-6596/2340/1/012043
NLM
Escudeiro R, Medina NH, Guazzelli MA, Vasconcellos CEC de, Oliveira JRB de, Allegro PRP, Núñez JAA, Ribas RV, Added N, Aguiar VÂP de, Macchione ELA, Scarduelli VB, Alberton SGPN, Toufen DL. Isomeric state in the odd-odd 68Ga nucleus [Internet]. Journal of Physics: Conference Series. 2022 ;[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1088/1742-6596/2340/1/012043
Vancouver
Escudeiro R, Medina NH, Guazzelli MA, Vasconcellos CEC de, Oliveira JRB de, Allegro PRP, Núñez JAA, Ribas RV, Added N, Aguiar VÂP de, Macchione ELA, Scarduelli VB, Alberton SGPN, Toufen DL. Isomeric state in the odd-odd 68Ga nucleus [Internet]. Journal of Physics: Conference Series. 2022 ;[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1088/1742-6596/2340/1/012043
Artigo de periodico
Determination of stable isotope ratios using nuclear reaction analysis coupled with a particle–gamma coincidence method (2021)
Paula Allegro ; Rizzutto, Marcia A. ; Added, Nemitala ; Aguiar, Vitor^Ângelo Paulino de ; Toufen, Dennis Lozano; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Medina, Nilberto H. ; Ribas, Roberto Vicençotto; Oliveira, José Roberto Brandão de ; Escudeiro, Rafael ; Alcantara, Juan ; Curado, Jessica Fleury; Scarduelli, Valdir Brunetti; Zagatto, Vinicius Antonio Bocaline; Rodrigues, Cleber ; Tabacniks, Manfredo
Source: Journal of Analytical Atomic Spectrometry. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, REAÇÕES NUCLEARES, ESPECTROMETRIA, ISÓTOPOS ESTÁVEIS, COBRE
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
PAULA ALLEGRO, et al. Determination of stable isotope ratios using nuclear reaction analysis coupled with a particle–gamma coincidence method. Journal of Analytical Atomic Spectrometry, v. 36, n. 1, p. 120-132, 2021Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1039/D0JA00283F. Acesso em: 27 set. 2024.
APA
Paula Allegro,, Rizzutto, M. A., Added, N., Aguiar, V. ^Â. P. de, Toufen, D. L., Macchione, E. L. A., et al. (2021). Determination of stable isotope ratios using nuclear reaction analysis coupled with a particle–gamma coincidence method. Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 36( 1), 120-132. doi:10.1039/D0JA00283F
NLM
Paula Allegro, Rizzutto MA, Added N, Aguiar V^ÂP de, Toufen DL, Macchione ELA, Medina NH, Ribas RV, Oliveira JRB de, Escudeiro R, Alcantara J, Curado JF, Scarduelli VB, Zagatto VAB, Rodrigues C, Tabacniks M. Determination of stable isotope ratios using nuclear reaction analysis coupled with a particle–gamma coincidence method [Internet]. Journal of Analytical Atomic Spectrometry. 2021 ; 36( 1): 120-132.[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1039/D0JA00283F
Vancouver
Paula Allegro, Rizzutto MA, Added N, Aguiar V^ÂP de, Toufen DL, Macchione ELA, Medina NH, Ribas RV, Oliveira JRB de, Escudeiro R, Alcantara J, Curado JF, Scarduelli VB, Zagatto VAB, Rodrigues C, Tabacniks M. Determination of stable isotope ratios using nuclear reaction analysis coupled with a particle–gamma coincidence method [Internet]. Journal of Analytical Atomic Spectrometry. 2021 ; 36( 1): 120-132.[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1039/D0JA00283F
Relatorio tecnico
Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization (2021)
Silva, T. F.; Höschen, T.; Toussaint, U. von; Mayer, M.; Rodrigues, Cleber Lima ; Tabacniks, Manfredo Harri ; Added, Nemitala ; Rizzutto, Márcia de Almeida
Unidade: IF
Subjects: ÍONS, SIMULAÇÃO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SILVA, T. F. et al. Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf. Acesso em: 27 set. 2024. , 2021
APA
Silva, T. F., Höschen, T., Toussaint, U. von, Mayer, M., Rodrigues, C. L., Tabacniks, M. H., et al. (2021). Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf
NLM
Silva TF, Höschen T, Toussaint U von, Mayer M, Rodrigues CL, Tabacniks MH, Added N, Rizzutto M de A. Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization [Internet]. 2021 ;[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf
Vancouver
Silva TF, Höschen T, Toussaint U von, Mayer M, Rodrigues CL, Tabacniks MH, Added N, Rizzutto M de A. Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization [Internet]. 2021 ;[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf
Apresentacao sonora/cenica/entrevista
O Professor Nemitala Added fala sobre "Como íons pesados interagem com dispositivos eletrônicos" [Palestra] (2020)
Added, Nemitala
Source: Canal do Youtube: Observatório Nacional. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, INSTRUMENTAÇÃO (FÍSICA), ÍONS PESADOS, DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS, RADIAÇÃO IONIZANTE
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ADDED, Nemitala. O Professor Nemitala Added fala sobre "Como íons pesados interagem com dispositivos eletrônicos" [Palestra]. Canal do Youtube: Observatório Nacional. Rio de Janeiro: ON-Observatório Nacional. Disponível em: https://www.youtube.com/watch?v=nAcvKMEfPNs. Acesso em: 27 set. 2024. , 2020
APA
Added, N. (2020). O Professor Nemitala Added fala sobre "Como íons pesados interagem com dispositivos eletrônicos" [Palestra]. Canal do Youtube: Observatório Nacional. Rio de Janeiro: ON-Observatório Nacional. Recuperado de https://www.youtube.com/watch?v=nAcvKMEfPNs
NLM
Added N. O Professor Nemitala Added fala sobre "Como íons pesados interagem com dispositivos eletrônicos" [Palestra] [Internet]. Canal do Youtube: Observatório Nacional. 2020 ;[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://www.youtube.com/watch?v=nAcvKMEfPNs
Vancouver
Added N. O Professor Nemitala Added fala sobre "Como íons pesados interagem com dispositivos eletrônicos" [Palestra] [Internet]. Canal do Youtube: Observatório Nacional. 2020 ;[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://www.youtube.com/watch?v=nAcvKMEfPNs
Artigo de periodico
Evaluating Soft Core RISC-V Processor in SRAM-Based FPGA Under Radiation Effects (2020)
Oliveira, Ádria ; Tambara, Lucas A.; Benevenuti, Fabio; Benites, Luis A. C.; Added, Nemitala ; Aguiar, Vitor^Ângelo Paulino de ; Medina, N. H.; Guazzelli, Marcilei Aparecida ; Kastensmidt, Fernanda
Source: IEEE Transactions on Nuclear Science. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, ÍONS PESADOS, DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS, MATERIAIS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
OLIVEIRA, Ádria et al. Evaluating Soft Core RISC-V Processor in SRAM-Based FPGA Under Radiation Effects. IEEE Transactions on Nuclear Science, v. 67, n. 7, p. 1503-1510, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1109/TNS.2020.2995729. Acesso em: 27 set. 2024.
APA
Oliveira, Á., Tambara, L. A., Benevenuti, F., Benites, L. A. C., Added, N., Aguiar, V. ^Â. P. de, et al. (2020). Evaluating Soft Core RISC-V Processor in SRAM-Based FPGA Under Radiation Effects. IEEE Transactions on Nuclear Science, 67( 7), 1503-1510. doi:10.1109/TNS.2020.2995729
NLM
Oliveira Á, Tambara LA, Benevenuti F, Benites LAC, Added N, Aguiar V^ÂP de, Medina NH, Guazzelli MA, Kastensmidt F. Evaluating Soft Core RISC-V Processor in SRAM-Based FPGA Under Radiation Effects [Internet]. IEEE Transactions on Nuclear Science. 2020 ; 67( 7): 1503-1510.[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TNS.2020.2995729
Vancouver
Oliveira Á, Tambara LA, Benevenuti F, Benites LAC, Added N, Aguiar V^ÂP de, Medina NH, Guazzelli MA, Kastensmidt F. Evaluating Soft Core RISC-V Processor in SRAM-Based FPGA Under Radiation Effects [Internet]. IEEE Transactions on Nuclear Science. 2020 ; 67( 7): 1503-1510.[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TNS.2020.2995729
Artigo de periodico
Cluster Configuration Effects in the Elastic Scattering of Boron Isotopes 8 B, 10 B, 11 B and 12 B on 58 Ni (2020)
Guimarães, Valdir ; Zevallos, Erick Oscar Natividad ; Cardozo, E. N.; Lubian, Jesus ; Santos, O. C. B.; Linares, Roberto ; Assunção, M.; Alcantara-Nunez, J.; Lara, Alessandro Luiz de ; Lichtenthaler Filho, Rubens ; Pires, Kelly Cristina Cezaretto ; Silva, Uiran Umbelino da ; Appannababu, S. ; Added, Nemitala ; Monteiro, D. S.; Morcelle, Viviane
Source: Recent Progress in Few-Body Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, REAÇÕES NUCLEARES, ISÓTOPOS, ESPALHAMENTO, ASTROFÍSICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GUIMARÃES, Valdir et al. Cluster Configuration Effects in the Elastic Scattering of Boron Isotopes 8 B, 10 B, 11 B and 12 B on 58 Ni. Recent Progress in Few-Body Physics, v. 238, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/978-3-030-32357-8_34. Acesso em: 27 set. 2024.
APA
Guimarães, V., Zevallos, E. O. N., Cardozo, E. N., Lubian, J., Santos, O. C. B., Linares, R., et al. (2020). Cluster Configuration Effects in the Elastic Scattering of Boron Isotopes 8 B, 10 B, 11 B and 12 B on 58 Ni. Recent Progress in Few-Body Physics, 238. doi:10.1007/978-3-030-32357-8_34
NLM
Guimarães V, Zevallos EON, Cardozo EN, Lubian J, Santos OCB, Linares R, Assunção M, Alcantara-Nunez J, Lara AL de, Lichtenthaler Filho R, Pires KCC, Silva UU da, Appannababu S, Added N, Monteiro DS, Morcelle V. Cluster Configuration Effects in the Elastic Scattering of Boron Isotopes 8 B, 10 B, 11 B and 12 B on 58 Ni [Internet]. Recent Progress in Few-Body Physics. 2020 ; 238[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1007/978-3-030-32357-8_34
Vancouver
Guimarães V, Zevallos EON, Cardozo EN, Lubian J, Santos OCB, Linares R, Assunção M, Alcantara-Nunez J, Lara AL de, Lichtenthaler Filho R, Pires KCC, Silva UU da, Appannababu S, Added N, Monteiro DS, Morcelle V. Cluster Configuration Effects in the Elastic Scattering of Boron Isotopes 8 B, 10 B, 11 B and 12 B on 58 Ni [Internet]. Recent Progress in Few-Body Physics. 2020 ; 238[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1007/978-3-030-32357-8_34
Artigo de periodico
Neutron radiation effects on an electronic system on module (2020)
Lo Presti, Domenico ; Medina, Nilberto H. ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Oliveira, José Roberto Brandão de ; Added, Nemitala ; Macchione, Eduardo Luiz Augusto
Source: Review of Scientific Instruments. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, FÍSICA DE PARTÍCULAS, ACELERADOR DE PARTÍCULAS, NÊUTRONS, DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS, REAÇÕES NUCLEARES, REATORES NUCLEARES DE FISSÃO, ISÓTOPOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
LO PRESTI, Domenico et al. Neutron radiation effects on an electronic system on module. Review of Scientific Instruments, v. 91, n. 8, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/5.0010968. Acesso em: 27 set. 2024.
APA
Lo Presti, D., Medina, N. H., Aguiar, V. Â. P. de, Oliveira, J. R. B. de, Added, N., & Macchione, E. L. A. (2020). Neutron radiation effects on an electronic system on module. Review of Scientific Instruments, 91( 8). doi:10.1063/5.0010968
NLM
Lo Presti D, Medina NH, Aguiar VÂP de, Oliveira JRB de, Added N, Macchione ELA. Neutron radiation effects on an electronic system on module [Internet]. Review of Scientific Instruments. 2020 ; 91( 8):[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1063/5.0010968
Vancouver
Lo Presti D, Medina NH, Aguiar VÂP de, Oliveira JRB de, Added N, Macchione ELA. Neutron radiation effects on an electronic system on module [Internet]. Review of Scientific Instruments. 2020 ; 91( 8):[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1063/5.0010968
Artigo de periodico
Reducing Soft Error Rate of SoCs Analog-to-Digital Interfaces With Design Diversity Redundancy (2020)
González, Carlos J; Added, Nemitala ; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Kastensmidt, Fernanda G L; Puchner, Helmut K; Guazzelli, Marcilei A ; Medina, Nilberto Heder ; Balen, Tiago R
Source: IEEE Transactions on Nuclear Science. Unidade: IF
Assunto: ÍONS PESADOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GONZÁLEZ, Carlos J et al. Reducing Soft Error Rate of SoCs Analog-to-Digital Interfaces With Design Diversity Redundancy. IEEE Transactions on Nuclear Science, v. . 67, n. 3, p. 518-524, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2952775. Acesso em: 27 set. 2024.
APA
González, C. J., Added, N., Macchione, E. L. A., Aguiar, V. Â. P. de, Kastensmidt, F. G. L., Puchner, H. K., et al. (2020). Reducing Soft Error Rate of SoCs Analog-to-Digital Interfaces With Design Diversity Redundancy. IEEE Transactions on Nuclear Science, . 67( 3), 518-524. doi:10.1109/TNS.2019.2952775
NLM
González CJ, Added N, Macchione ELA, Aguiar VÂP de, Kastensmidt FGL, Puchner HK, Guazzelli MA, Medina NH, Balen TR. Reducing Soft Error Rate of SoCs Analog-to-Digital Interfaces With Design Diversity Redundancy [Internet]. IEEE Transactions on Nuclear Science. 2020 ;. 67( 3): 518-524.[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2952775
Vancouver
González CJ, Added N, Macchione ELA, Aguiar VÂP de, Kastensmidt FGL, Puchner HK, Guazzelli MA, Medina NH, Balen TR. Reducing Soft Error Rate of SoCs Analog-to-Digital Interfaces With Design Diversity Redundancy [Internet]. IEEE Transactions on Nuclear Science. 2020 ;. 67( 3): 518-524.[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2952775
Artigo de periodico
Elastic scattering of the 'ANTPOT. 12'B'+'ANTPPOT. 58 'NI' system at near-barrier energies (2019)
Zevallos, Erick Oscar Natividad ; Guimarães, Valdir ; Lichtenthaler Filho, Rubens; Pires, Kelly Cristina Cezaretto ; Santos, Osvaldo Camargo Botelho dos ; Appannababu, S. ; Crema, Edilson ; Lara, Alessandro Luiz de ; Villamizar, Yoxara Sánchez ; Silva, Uiran Umbelino da ; Added, Nemitala
Source: Physical Review C. Unidade: IF
Assunto: ESPALHAMENTO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ZEVALLOS, Erick Oscar Natividad et al. Elastic scattering of the 'ANTPOT. 12'B'+'ANTPPOT. 58 'NI' system at near-barrier energies. Physical Review C, v. 99, p. 064613(9) , 2019Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1103/PhysRevC.99.064613. Acesso em: 27 set. 2024.
APA
Zevallos, E. O. N., Guimarães, V., Lichtenthaler Filho, R., Pires, K. C. C., Santos, O. C. B. dos, Appannababu, S., et al. (2019). Elastic scattering of the 'ANTPOT. 12'B'+'ANTPPOT. 58 'NI' system at near-barrier energies. Physical Review C, 99, 064613(9) . doi:10.1103/PhysRevC.99.064613
NLM
Zevallos EON, Guimarães V, Lichtenthaler Filho R, Pires KCC, Santos OCB dos, Appannababu S, Crema E, Lara AL de, Villamizar YS, Silva UU da, Added N. Elastic scattering of the 'ANTPOT. 12'B'+'ANTPPOT. 58 'NI' system at near-barrier energies [Internet]. Physical Review C. 2019 ; 99 064613(9) .[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevC.99.064613
Vancouver
Zevallos EON, Guimarães V, Lichtenthaler Filho R, Pires KCC, Santos OCB dos, Appannababu S, Crema E, Lara AL de, Villamizar YS, Silva UU da, Added N. Elastic scattering of the 'ANTPOT. 12'B'+'ANTPPOT. 58 'NI' system at near-barrier energies [Internet]. Physical Review C. 2019 ; 99 064613(9) .[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevC.99.064613
Artigo de periodico
Scattering of 16,18O beams on 63,65Cu targets: A systematic study of different reaction channels (2019)
Zagatto, Vinicius Antonio Bocaline ; Crema, Edilson ; Added, Nemitala ; Simões, Rone Flávio
Source: Physical Review C. Unidade: IF
Assunto: PARTÍCULAS (FÍSICA NUCLEAR)
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ZAGATTO, Vinicius Antonio Bocaline et al. Scattering of 16,18O beams on 63,65Cu targets: A systematic study of different reaction channels. Physical Review C, v. 100, p. 044602(11), 2019Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1103/PhysRevC.100.044602. Acesso em: 27 set. 2024.
APA
Zagatto, V. A. B., Crema, E., Added, N., & Simões, R. F. (2019). Scattering of 16,18O beams on 63,65Cu targets: A systematic study of different reaction channels. Physical Review C, 100, 044602(11). doi:10.1103/PhysRevC.100.044602
NLM
Zagatto VAB, Crema E, Added N, Simões RF. Scattering of 16,18O beams on 63,65Cu targets: A systematic study of different reaction channels [Internet]. Physical Review C. 2019 ;100 044602(11).[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevC.100.044602
Vancouver
Zagatto VAB, Crema E, Added N, Simões RF. Scattering of 16,18O beams on 63,65Cu targets: A systematic study of different reaction channels [Internet]. Physical Review C. 2019 ;100 044602(11).[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevC.100.044602
Trabalho de evento-resumo
Lifetime measurements in excited states of nuclei in the A = 70 mass region (2019)
Escudeiro, Rafael; Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Ribas, Roberto Vicençotto; Allegro, Paula Rangel Pestana; Oliveira, José Roberto Brandão de; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento; Alcantara-Nunez, Juan Antonio; Scarduelli, Valdir Brunetti; Kurman. Valter Luiz
Source: Abstracts. Conference titles: Escola de Verão Jorge André Swieca Física Nuclear Teórica. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, RADIAÇÃO IONIZANTE
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ESCUDEIRO, Rafael et al. Lifetime measurements in excited states of nuclei in the A = 70 mass region. 2019, Anais.. São Paulo: SBF, 2019. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xix/sys/resumos/R0038-1.pdf. Acesso em: 27 set. 2024.
APA
Escudeiro, R., Medina, N. H., Added, N., Macchione, E. L. A., Ribas, R. V., Allegro, P. R. P., et al. (2019). Lifetime measurements in excited states of nuclei in the A = 70 mass region. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xix/sys/resumos/R0038-1.pdf
NLM
Escudeiro R, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Ribas RV, Allegro PRP, Oliveira JRB de, Aguiar VÂP de, Alberton SGPN, Alcantara-Nunez JA, Scarduelli VB, Kurman. Valter Luiz. Lifetime measurements in excited states of nuclei in the A = 70 mass region [Internet]. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xix/sys/resumos/R0038-1.pdf
Vancouver
Escudeiro R, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Ribas RV, Allegro PRP, Oliveira JRB de, Aguiar VÂP de, Alberton SGPN, Alcantara-Nunez JA, Scarduelli VB, Kurman. Valter Luiz. Lifetime measurements in excited states of nuclei in the A = 70 mass region [Internet]. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xix/sys/resumos/R0038-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Destructive single-event effects in semiconductor devices (2019)
Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento ; Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Menegasso, Ricardo; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Ribas, Roberto Vicençotto
Source: Abstracts. Conference titles: Escola de Verão Jorge André Swieca Física Nuclear Teórica. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, RADIAÇÃO IONIZANTE
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ALBERTON, Saulo Gabriel Pereira Nascimento et al. Destructive single-event effects in semiconductor devices. 2019, Anais.. São Paulo: SBF, 2019. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xix/sys/resumos/R0027-1.pdf. Acesso em: 27 set. 2024.
APA
Alberton, S. G. P. N., Medina, N. H., Added, N., Menegasso, R., Macchione, E. L. A., Aguiar, V. Â. P. de, & Ribas, R. V. (2019). Destructive single-event effects in semiconductor devices. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xix/sys/resumos/R0027-1.pdf
NLM
Alberton SGPN, Medina NH, Added N, Menegasso R, Macchione ELA, Aguiar VÂP de, Ribas RV. Destructive single-event effects in semiconductor devices [Internet]. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xix/sys/resumos/R0027-1.pdf
Vancouver
Alberton SGPN, Medina NH, Added N, Menegasso R, Macchione ELA, Aguiar VÂP de, Ribas RV. Destructive single-event effects in semiconductor devices [Internet]. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xix/sys/resumos/R0027-1.pdf
Artigo de periodico
Strong neutron-transfer coupling effects in the reaction mechanism of the 18O+64Zn system at energies near the Coulomb barrier (2019)
Crema, Edilson ; B. Paes; Zagatto, Vinicius Antonio Bocaline ; Huiza, Juan Félix Pari ; Lubian, Jesus ; Shorto, Julian Marco Barbosa ; Simões, Rone Flávio ; Monteiro, D. S.; Added, Nemitala ; Morais, M. C.; Gomes, P. R. S.
Source: Physical Review C. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, FUSÃO NUCLEAR, PARTÍCULAS (FÍSICA NUCLEAR)
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
CREMA, Edilson et al. Strong neutron-transfer coupling effects in the reaction mechanism of the 18O+64Zn system at energies near the Coulomb barrier. Physical Review C, v. 100, n. 5, 2019Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1103/PhysRevC.100.054608. Acesso em: 27 set. 2024.
APA
Crema, E., B. Paes,, Zagatto, V. A. B., Huiza, J. F. P., Lubian, J., Shorto, J. M. B., et al. (2019). Strong neutron-transfer coupling effects in the reaction mechanism of the 18O+64Zn system at energies near the Coulomb barrier. Physical Review C, 100( 5). doi:10.1103/PhysRevC.100.054608
NLM
Crema E, B. Paes, Zagatto VAB, Huiza JFP, Lubian J, Shorto JMB, Simões RF, Monteiro DS, Added N, Morais MC, Gomes PRS. Strong neutron-transfer coupling effects in the reaction mechanism of the 18O+64Zn system at energies near the Coulomb barrier [Internet]. Physical Review C. 2019 ; 100( 5):[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevC.100.054608
Vancouver
Crema E, B. Paes, Zagatto VAB, Huiza JFP, Lubian J, Shorto JMB, Simões RF, Monteiro DS, Added N, Morais MC, Gomes PRS. Strong neutron-transfer coupling effects in the reaction mechanism of the 18O+64Zn system at energies near the Coulomb barrier [Internet]. Physical Review C. 2019 ; 100( 5):[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevC.100.054608
Trabalho de evento-resumo
Critical dependencies of heavy ion-induced destructive failures in electronic devices (2019)
Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento ; Medina, Nilberto Heder ; Added, Nemitala; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Menegasso, Ricardo ; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Escudeiro, Rafael ; Guazzelli, Marcilei Aparecida ; Flechas, D
Source: Abstracts. Conference titles: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil. Unidade: IF
Assunto: ÍONS PESADOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ALBERTON, Saulo Gabriel Pereira Nascimento et al. Critical dependencies of heavy ion-induced destructive failures in electronic devices. 2019, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2019. . Acesso em: 27 set. 2024.
APA
Alberton, S. G. P. N., Medina, N. H., Added, N., Aguiar, V. Â. P. de, Menegasso, R., Macchione, E. L. A., et al. (2019). Critical dependencies of heavy ion-induced destructive failures in electronic devices. In Abstracts. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Alberton SGPN, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Menegasso R, Macchione ELA, Escudeiro R, Guazzelli MA, Flechas D. Critical dependencies of heavy ion-induced destructive failures in electronic devices. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 set. 27 ]
Vancouver
Alberton SGPN, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Menegasso R, Macchione ELA, Escudeiro R, Guazzelli MA, Flechas D. Critical dependencies of heavy ion-induced destructive failures in electronic devices. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 set. 27 ]
Trabalho de evento-resumo
Nuclear structure of nuclei in the A = 70 mass region (2019)
Escudeiro, Rafael; Medina, Nilberto Heder ; Allegro, Paula Rangel Pestana; Oliveira, José Roberto Brandão de; Ribas, Roberto Vicençotto; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento; Alcantara-Nunez, Juan Antonio; Added, Nemitala; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Scarduelli, Valdir Brunetti; Kurman. Valter Luiz
Source: Abstracts. Conference titles: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil. Unidade: IF
Assunto: ESTRUTURA NUCLEAR
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ESCUDEIRO, Rafael et al. Nuclear structure of nuclei in the A = 70 mass region. 2019, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2019. . Acesso em: 27 set. 2024.
APA
Escudeiro, R., Medina, N. H., Allegro, P. R. P., Oliveira, J. R. B. de, Ribas, R. V., Aguiar, V. Â. P. de, et al. (2019). Nuclear structure of nuclei in the A = 70 mass region. In Abstracts. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Escudeiro R, Medina NH, Allegro PRP, Oliveira JRB de, Ribas RV, Aguiar VÂP de, Alberton SGPN, Alcantara-Nunez JA, Added N, Macchione ELA, Scarduelli VB, Kurman. Valter Luiz. Nuclear structure of nuclei in the A = 70 mass region. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 set. 27 ]
Vancouver
Escudeiro R, Medina NH, Allegro PRP, Oliveira JRB de, Ribas RV, Aguiar VÂP de, Alberton SGPN, Alcantara-Nunez JA, Added N, Macchione ELA, Scarduelli VB, Kurman. Valter Luiz. Nuclear structure of nuclei in the A = 70 mass region. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 set. 27 ]
Artigo de periodico
Reaction mechanisms of the 16O + 65Cu system (2019)
Crema, Edilson; Zagatto, Vinicius Antonio Bocaline; Shorto, Julian Marco Barbosa; Paes, B; Lubian, J; Simões, Rone Flávio; Monteiro, D S; Huiza, J F P; Added, Nemitala; Morais, Maria Carmen; Gomes, P R S
Source: Physical Review C. Unidade: IF
Assunto: REAÇÕES NUCLEARES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
CREMA, Edilson et al. Reaction mechanisms of the 16O + 65Cu system. Physical Review C, n. 5, p. 054623/1- 054623/10, 2019Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1103/PhysRevC.99.054623. Acesso em: 27 set. 2024.
APA
Crema, E., Zagatto, V. A. B., Shorto, J. M. B., Paes, B., Lubian, J., Simões, R. F., et al. (2019). Reaction mechanisms of the 16O + 65Cu system. Physical Review C, ( 5), 054623/1- 054623/10. doi:10.1103/PhysRevC.99.054623
NLM
Crema E, Zagatto VAB, Shorto JMB, Paes B, Lubian J, Simões RF, Monteiro DS, Huiza JFP, Added N, Morais MC, Gomes PRS. Reaction mechanisms of the 16O + 65Cu system [Internet]. Physical Review C. 2019 ;( 5): 054623/1- 054623/10.[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevC.99.054623
Vancouver
Crema E, Zagatto VAB, Shorto JMB, Paes B, Lubian J, Simões RF, Monteiro DS, Huiza JFP, Added N, Morais MC, Gomes PRS. Reaction mechanisms of the 16O + 65Cu system [Internet]. Physical Review C. 2019 ;( 5): 054623/1- 054623/10.[citado 2024 set. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevC.99.054623

USP Schools

ReP

Filtros

Document Types

USP Schools

Departament

Authors

USP affiliated authors

Date published

Subjects

Source title

Publisher

Conference titles

Countries/Territories

Funding Agencies

Indexado em

Normalized affiliation

Non normalized affiliation

Countries of institutions of collaboration