High impedance fault location characterized by Fourier, Stockwell and Wavelet transforms (2019)
Lopes, Gabriela Nunes; Trondoli, Luiz Henrique Pessoa da Costa; Vieira Júnior, José Carlos de Melo 
; Macedo Junior, José Rubens
Assuntos: IMPEDÂNCIA ELÉTRICA, FALHA, TRANSFORMADA DE FOURIER, DISTRIBUIÇÃO DE ENERGIA ELÉTRICA, ANÁLISE DE ONDALETAS, ENGENHARIA ELÉTRICA
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ABNT
LOPES, Gabriela Nunes et al. High impedance fault location characterized by Fourier, Stockwell and Wavelet transforms. 2019, Anais.. Itajubá, MG: SBQEE, 2019. . Acesso em: 02 nov. 2024.APA
Lopes, G. N., Trondoli, L. H. P. da C., Vieira Júnior, J. C. de M., & Macedo Junior, J. R. (2019). High impedance fault location characterized by Fourier, Stockwell and Wavelet transforms. In . Itajubá, MG: SBQEE.NLM
Lopes GN, Trondoli LHP da C, Vieira Júnior JC de M, Macedo Junior JR. High impedance fault location characterized by Fourier, Stockwell and Wavelet transforms. 2019 ;[citado 2024 nov. 02 ]Vancouver
Lopes GN, Trondoli LHP da C, Vieira Júnior JC de M, Macedo Junior JR. High impedance fault location characterized by Fourier, Stockwell and Wavelet transforms. 2019 ;[citado 2024 nov. 02 ]
