Processamento de sondas de varredura para MO-SNOM (2004)
Schoenmaker, Jeroen 
; Lancarotte, Marcelo Shiroma ; Seabra, Antonio Carlos ; Santos, Antonio Domingues dos; Souche, Yves
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada. Unidades: IF, EP
Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, MICROSCOPIA ELETRÔNICA, MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA
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ABNT
SCHOENMAKER, Jeroen et al. Processamento de sondas de varredura para MO-SNOM. 2004, Anais.. São Paulo: SBF, 2004. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R1176-3.pdf. Acesso em: 17 nov. 2024.APA
Schoenmaker, J., Lancarotte, M. S., Seabra, A. C., Santos, A. D. dos, & Souche, Y. (2004). Processamento de sondas de varredura para MO-SNOM. In Resumos. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R1176-3.pdfNLM
Schoenmaker J, Lancarotte MS, Seabra AC, Santos AD dos, Souche Y. Processamento de sondas de varredura para MO-SNOM [Internet]. Resumos. 2004 ;[citado 2024 nov. 17 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R1176-3.pdfVancouver
Schoenmaker J, Lancarotte MS, Seabra AC, Santos AD dos, Souche Y. Processamento de sondas de varredura para MO-SNOM [Internet]. Resumos. 2004 ;[citado 2024 nov. 17 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R1176-3.pdf
