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Trabalho de evento-resumo
Atomic force microscopy study of zirconia-yttria ceramics (2000)
Florio, D Z; Muccillo, Eliana Navarro dos Santos ; Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Passaro, Angela Maria Pizzo; Muccillo, R
Source: Abstracts. Conference titles: Congresso Brasileiro de Microscopia de Materiais. Unidade: IF
Assunto: MICROSCOPIA ELETRÔNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FLORIO, D Z et al. Atomic force microscopy study of zirconia-yttria ceramics. 2000, Anais.. São Carlos: UFSCAR, 2000. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Florio, D. Z., Muccillo, E. N. dos S., Salvadori, M. C. B. da S., Passaro, A. M. P., & Muccillo, R. (2000). Atomic force microscopy study of zirconia-yttria ceramics. In Abstracts. São Carlos: UFSCAR.
NLM
Florio DZ, Muccillo EN dos S, Salvadori MCB da S, Passaro AMP, Muccillo R. Atomic force microscopy study of zirconia-yttria ceramics. Abstracts. 2000 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Florio DZ, Muccillo EN dos S, Salvadori MCB da S, Passaro AMP, Muccillo R. Atomic force microscopy study of zirconia-yttria ceramics. Abstracts. 2000 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Trabalho de evento-resumo
Optical microscopy analysis of plastisols produced with resin and recycled PVC (2000)
Yoshiga, Adriana; Yoshimura, Humberto Naoyuki ; Kiyohara, Pedro Kunihiko; Wiebeck, Hélio
Source: Abstracts. Conference titles: Congresso Brasileiro de Microscopia de Materiais. Unidades: IF, EP
Assunto: MICROSCOPIA ELETRÔNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
YOSHIGA, Adriana et al. Optical microscopy analysis of plastisols produced with resin and recycled PVC. 2000, Anais.. São Carlos: UFSCAR, 2000. Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/4b4bf6e5-5337-4127-a17c-cf388deffd7d/WIEBECK-2000-Optical.pdf. Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Yoshiga, A., Yoshimura, H. N., Kiyohara, P. K., & Wiebeck, H. (2000). Optical microscopy analysis of plastisols produced with resin and recycled PVC. In Abstracts. São Carlos: UFSCAR. Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/4b4bf6e5-5337-4127-a17c-cf388deffd7d/WIEBECK-2000-Optical.pdf
NLM
Yoshiga A, Yoshimura HN, Kiyohara PK, Wiebeck H. Optical microscopy analysis of plastisols produced with resin and recycled PVC [Internet]. Abstracts. 2000 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/4b4bf6e5-5337-4127-a17c-cf388deffd7d/WIEBECK-2000-Optical.pdf
Vancouver
Yoshiga A, Yoshimura HN, Kiyohara PK, Wiebeck H. Optical microscopy analysis of plastisols produced with resin and recycled PVC [Internet]. Abstracts. 2000 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/4b4bf6e5-5337-4127-a17c-cf388deffd7d/WIEBECK-2000-Optical.pdf
Trabalho de evento-resumo
Effect of chromium on the growth of alumina microcrystals (2000)
Santos, Pérsio de Souza; Kiyohara, Pedro Kunihiko; Santos, Helena Souza
Source: Abstracts. Conference titles: Congresso Brasileiro de Microscopia de Materiais. Unidades: EP, IF
Assunto: MICROSCOPIA ELETRÔNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SANTOS, Pérsio de Souza e KIYOHARA, Pedro Kunihiko e SANTOS, Helena Souza. Effect of chromium on the growth of alumina microcrystals. 2000, Anais.. São Carlos: UFSCAR, 2000. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Santos, P. de S., Kiyohara, P. K., & Santos, H. S. (2000). Effect of chromium on the growth of alumina microcrystals. In Abstracts. São Carlos: UFSCAR.
NLM
Santos P de S, Kiyohara PK, Santos HS. Effect of chromium on the growth of alumina microcrystals. Abstracts. 2000 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Santos P de S, Kiyohara PK, Santos HS. Effect of chromium on the growth of alumina microcrystals. Abstracts. 2000 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Trabalho de evento-resumo
Yttrium incorporation into transition aluminas (2000)
Santos, Helena Souza; Santos, Pérsio de Souza; Kiyohara, Pedro Kunihiko
Source: Abstracts. Conference titles: Congresso Brasileiro de Microscopia de Materiais. Unidades: IF, EP
Assunto: MICROSCOPIA ELETRÔNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SANTOS, Helena Souza e SANTOS, Pérsio de Souza e KIYOHARA, Pedro Kunihiko. Yttrium incorporation into transition aluminas. 2000, Anais.. São Carlos: UFSCAR, 2000. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Santos, H. S., Santos, P. de S., & Kiyohara, P. K. (2000). Yttrium incorporation into transition aluminas. In Abstracts. São Carlos: UFSCAR.
NLM
Santos HS, Santos P de S, Kiyohara PK. Yttrium incorporation into transition aluminas. Abstracts. 2000 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Santos HS, Santos P de S, Kiyohara PK. Yttrium incorporation into transition aluminas. Abstracts. 2000 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Trabalho de evento-resumo
Scanning tunneling microscopy as a tool for doping studies in semiconductors (2000)
Lamas, T. E.; Quivy, A. A.
Source: Abstracts. Conference titles: Congresso Brasileiro de Microscopia de Materiais. Unidade: IF
Subjects: MICROSCOPIA ELETRÔNICA, SEMICONDUTORES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
LAMAS, T. E. e QUIVY, A. A. Scanning tunneling microscopy as a tool for doping studies in semiconductors. 2000, Anais.. São Carlos: UFSCAR, 2000. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Lamas, T. E., & Quivy, A. A. (2000). Scanning tunneling microscopy as a tool for doping studies in semiconductors. In Abstracts. São Carlos: UFSCAR.
NLM
Lamas TE, Quivy AA. Scanning tunneling microscopy as a tool for doping studies in semiconductors. Abstracts. 2000 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Lamas TE, Quivy AA. Scanning tunneling microscopy as a tool for doping studies in semiconductors. Abstracts. 2000 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Trabalho de evento-resumo
AFM characterization of the spontaneous step alignment of InAs quantum dots along their evolution cycle (2000)
Silva, M. J. da; Quivy, A. A.; Borrero, P. P. G.; Marega Junior, Euclydes
Source: Abstracts. Conference titles: Congresso Brasileiro de Microscopia de Materiais. Unidades: IF, IFSC
Assunto: MICROSCOPIA ELETRÔNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SILVA, M. J. da et al. AFM characterization of the spontaneous step alignment of InAs quantum dots along their evolution cycle. 2000, Anais.. São Carlos: UFSCAR, 2000. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Silva, M. J. da, Quivy, A. A., Borrero, P. P. G., & Marega Junior, E. (2000). AFM characterization of the spontaneous step alignment of InAs quantum dots along their evolution cycle. In Abstracts. São Carlos: UFSCAR.
NLM
Silva MJ da, Quivy AA, Borrero PPG, Marega Junior E. AFM characterization of the spontaneous step alignment of InAs quantum dots along their evolution cycle. Abstracts. 2000 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Silva MJ da, Quivy AA, Borrero PPG, Marega Junior E. AFM characterization of the spontaneous step alignment of InAs quantum dots along their evolution cycle. Abstracts. 2000 ;[citado 2024 nov. 02 ]

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