Characterization of silver electrodeposits using electron scanning (SEM) (1998)
Nome do evento: Symposium Electron Microscopy. Unidade: IQAssuntos: FÍSICO-QUÍMICA, MICROSCOPIA
ABNT
CARLOS, I A et al. Characterization of silver electrodeposits using electron scanning (SEM). 1998, Anais.. Cancun: Instituto de Química, Universidade de São Paulo, 1998. . Acesso em: 04 ago. 2024.APA
Carlos, I. A., Pallone, E. M. J. A., Tulio, P. C., & Torresi, S. I. C. de. (1998). Characterization of silver electrodeposits using electron scanning (SEM). In . Cancun: Instituto de Química, Universidade de São Paulo.NLM
Carlos IA, Pallone EMJA, Tulio PC, Torresi SIC de. Characterization of silver electrodeposits using electron scanning (SEM). 1998 ;[citado 2024 ago. 04 ]Vancouver
Carlos IA, Pallone EMJA, Tulio PC, Torresi SIC de. Characterization of silver electrodeposits using electron scanning (SEM). 1998 ;[citado 2024 ago. 04 ]