Análise metalográfica por microscopia óptica acoplada a platina a quente [CD-ROM] (2000)
Source: Anais. Conference titles: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciência dos Materiais. Unidade: EESC
Subjects: METALOGRAFIA (ANÁLISE), MUDANÇA DE FASE, ALTA TEMPERATURA, TRATAMENTO TÉRMICO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ROLLO, João Manuel Domingos de Almeida e DI LORENZO, Pedro Luiz. Análise metalográfica por microscopia óptica acoplada a platina a quente [CD-ROM]. 2000, Anais.. São Carlos: DEMa-UFSCar, 2000. . Acesso em: 04 nov. 2024.APA
Rollo, J. M. D. de A., & Di Lorenzo, P. L. (2000). Análise metalográfica por microscopia óptica acoplada a platina a quente [CD-ROM]. In Anais. São Carlos: DEMa-UFSCar.NLM
Rollo JMD de A, Di Lorenzo PL. Análise metalográfica por microscopia óptica acoplada a platina a quente [CD-ROM]. Anais. 2000 ;[citado 2024 nov. 04 ]Vancouver
Rollo JMD de A, Di Lorenzo PL. Análise metalográfica por microscopia óptica acoplada a platina a quente [CD-ROM]. Anais. 2000 ;[citado 2024 nov. 04 ]
