Mecanismos de falha e indicadores da confiabilidade de dispositivos semicondutores (1990)
Ramírez Fernandez, Francisco Javier 
Source: Anais. Conference titles: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciencia dos Materiais. Unidade: EP
Subjects: ENGENHARIA ELÉTRICA (CONFIABILIDADE), SEMICONDUTORES
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ABNT
RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Mecanismos de falha e indicadores da confiabilidade de dispositivos semicondutores. 1990, Anais.. São Paulo: Ipen/Cnen-Sp/Dema-Ufscar, 1990. . Acesso em: 01 nov. 2024.APA
Ramírez Fernandez, F. J. (1990). Mecanismos de falha e indicadores da confiabilidade de dispositivos semicondutores. In Anais. São Paulo: Ipen/Cnen-Sp/Dema-Ufscar.NLM
Ramírez Fernandez FJ. Mecanismos de falha e indicadores da confiabilidade de dispositivos semicondutores. Anais. 1990 ;[citado 2024 nov. 01 ]Vancouver
Ramírez Fernandez FJ. Mecanismos de falha e indicadores da confiabilidade de dispositivos semicondutores. Anais. 1990 ;[citado 2024 nov. 01 ]
