Fonte: Program. Nome do evento: International Symposium on Advanced Materials and Nanostructures - ISAMN. Unidades: IF, IFSC
Assuntos: POLÍMEROS (MATERIAIS), DIODOS, EMISSÃO DE LUZ, QUÍMICA ORGÂNICA, FILMES FINOS, SEMICONDUTORES
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ABNT
DIONYSIO, D. Olzon et al. Electro-optical characterization of non-abrupt metal/organic interfaces prepared by ion beam assisted deposition (IBAD). 2009, Anais.. Santo André: Universidade Federal do ABC - UFABC, 2009. . Acesso em: 22 ago. 2024.APA
Dionysio, D. O., Chubaci, J. F. D., Faria, R. M., & Guimarães, F. E. G. (2009). Electro-optical characterization of non-abrupt metal/organic interfaces prepared by ion beam assisted deposition (IBAD). In Program. Santo André: Universidade Federal do ABC - UFABC.NLM
Dionysio DO, Chubaci JFD, Faria RM, Guimarães FEG. Electro-optical characterization of non-abrupt metal/organic interfaces prepared by ion beam assisted deposition (IBAD). Program. 2009 ;[citado 2024 ago. 22 ]Vancouver
Dionysio DO, Chubaci JFD, Faria RM, Guimarães FEG. Electro-optical characterization of non-abrupt metal/organic interfaces prepared by ion beam assisted deposition (IBAD). Program. 2009 ;[citado 2024 ago. 22 ]