Critical exponent measurement of poor quality diamond films (2002)
Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira 
; Melo, L L; Martins, Deilton Reis; Vaz, A R; Cattani, Mauro Sérgio Dorsa
Source: Surface Review and Letters. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, DIAMANTE (PROPRIEDADES MAGNÉTICAS), MATERIAIS, MUDANÇA DE FASE
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira et al. Critical exponent measurement of poor quality diamond films. Surface Review and Letters, v. 9, n. 3-4, p. 1409-1412, 2002Tradução . . Acesso em: 30 abr. 2026.APA
Salvadori, M. C. B. da S., Melo, L. L., Martins, D. R., Vaz, A. R., & Cattani, M. S. D. (2002). Critical exponent measurement of poor quality diamond films. Surface Review and Letters, 9( 3-4), 1409-1412.NLM
Salvadori MCB da S, Melo LL, Martins DR, Vaz AR, Cattani MSD. Critical exponent measurement of poor quality diamond films. Surface Review and Letters. 2002 ; 9( 3-4): 1409-1412.[citado 2026 abr. 30 ]Vancouver
Salvadori MCB da S, Melo LL, Martins DR, Vaz AR, Cattani MSD. Critical exponent measurement of poor quality diamond films. Surface Review and Letters. 2002 ; 9( 3-4): 1409-1412.[citado 2026 abr. 30 ]
