Source: CIBIM 8. Conference titles: Congreso Iberoamericano de Ingenieria Mecanica. Unidade: EP
Subjects: CIRCUITOS ELÉTRICOS (CONFIABILIDADE), ENSAIOS ACELERADOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FELIX, Érico Pessoa e SOUZA, Gilberto Francisco Martha de. Análise de confiabilidade de sistemas eletrônicos complexos baseada em ensaios acelerados de vida. 2007, Anais.. San Miguel: Pontificia Universidad Católica del Perú, 2007. . Acesso em: 26 jan. 2026.APA
Felix, É. P., & Souza, G. F. M. de. (2007). Análise de confiabilidade de sistemas eletrônicos complexos baseada em ensaios acelerados de vida. In CIBIM 8. San Miguel: Pontificia Universidad Católica del Perú.NLM
Felix ÉP, Souza GFM de. Análise de confiabilidade de sistemas eletrônicos complexos baseada em ensaios acelerados de vida. CIBIM 8. 2007 ;[citado 2026 jan. 26 ]Vancouver
Felix ÉP, Souza GFM de. Análise de confiabilidade de sistemas eletrônicos complexos baseada em ensaios acelerados de vida. CIBIM 8. 2007 ;[citado 2026 jan. 26 ]
