Método para medida de emitância do feixe de elétrons de 1,8 MeV do Mícrotron do IFUSP (2009)
Conference titles: Simpósio Internacional de Iniciação Científica. Unidade: IFSubjects: FÍSICA (ESTUDO E ENSINO), ACELERADOR DE PARTÍCULAS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
JAHNKE, Cristiane et al. Método para medida de emitância do feixe de elétrons de 1,8 MeV do Mícrotron do IFUSP. 2009, Anais.. São Paulo: USP, 2009. Disponível em: http://www.usp.br/siicusp/Resumos/17Siicusp/resumos/3932.pdf. Acesso em: 01 set. 2024.APA
Jahnke, C., Silva, T. F. da, Martins, M. N., & Vanin, V. R. (2009). Método para medida de emitância do feixe de elétrons de 1,8 MeV do Mícrotron do IFUSP. In . São Paulo: USP. Recuperado de http://www.usp.br/siicusp/Resumos/17Siicusp/resumos/3932.pdfNLM
Jahnke C, Silva TF da, Martins MN, Vanin VR. Método para medida de emitância do feixe de elétrons de 1,8 MeV do Mícrotron do IFUSP [Internet]. 2009 ;[citado 2024 set. 01 ] Available from: http://www.usp.br/siicusp/Resumos/17Siicusp/resumos/3932.pdfVancouver
Jahnke C, Silva TF da, Martins MN, Vanin VR. Método para medida de emitância do feixe de elétrons de 1,8 MeV do Mícrotron do IFUSP [Internet]. 2009 ;[citado 2024 set. 01 ] Available from: http://www.usp.br/siicusp/Resumos/17Siicusp/resumos/3932.pdf
