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  • Source: Microelectronics Journal. Unidades: IF, IFSC

    Subjects: SEMICONDUTORES, MATERIAIS NANOESTRUTURADOS, NANOTECNOLOGIA, ESTRUTURA DOS MATERIAIS

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    • ABNT

      SILVA JUNIOR, E. F. da et al. Workshop of Semiconductor Nanodevices and Nanostructured Materials, 4 - NanoSemiMat. [Editorial]. Microelectronics Journal. Oxford: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: http://www.sciencedirect.com/science?_ob=JournalURL&_cdi=5748&_auth=y&_acct=C000049650&_version=1&_urlVersion=0&_userid=972067&md5=76443bb13e16222257c8c9659dea3cf1. Acesso em: 06 jul. 2024. , 2005
    • APA

      Silva Junior, E. F. da, Henini, M., Scolfaro, L. M. R., & Sipahi, G. M. (2005). Workshop of Semiconductor Nanodevices and Nanostructured Materials, 4 - NanoSemiMat. [Editorial]. Microelectronics Journal. Oxford: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de http://www.sciencedirect.com/science?_ob=JournalURL&_cdi=5748&_auth=y&_acct=C000049650&_version=1&_urlVersion=0&_userid=972067&md5=76443bb13e16222257c8c9659dea3cf1
    • NLM

      Silva Junior EF da, Henini M, Scolfaro LMR, Sipahi GM. Workshop of Semiconductor Nanodevices and Nanostructured Materials, 4 - NanoSemiMat. [Editorial] [Internet]. Microelectronics Journal. 2005 ; No 2005( 11): 939.[citado 2024 jul. 06 ] Available from: http://www.sciencedirect.com/science?_ob=JournalURL&_cdi=5748&_auth=y&_acct=C000049650&_version=1&_urlVersion=0&_userid=972067&md5=76443bb13e16222257c8c9659dea3cf1
    • Vancouver

      Silva Junior EF da, Henini M, Scolfaro LMR, Sipahi GM. Workshop of Semiconductor Nanodevices and Nanostructured Materials, 4 - NanoSemiMat. [Editorial] [Internet]. Microelectronics Journal. 2005 ; No 2005( 11): 939.[citado 2024 jul. 06 ] Available from: http://www.sciencedirect.com/science?_ob=JournalURL&_cdi=5748&_auth=y&_acct=C000049650&_version=1&_urlVersion=0&_userid=972067&md5=76443bb13e16222257c8c9659dea3cf1
  • Source: Journal of Electronic Imaging. Unidade: IFSC

    Subjects: VISÃO, CIÊNCIA DA COMPUTAÇÃO

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    • ABNT

      TOBIN, Kenneth W. e MERIAUDEAU, Fabrice e COSTA, Luciano da Fontoura. Quality control by artificial vision. Journal of Electronic Imaging. Springfield: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo. . Acesso em: 06 jul. 2024. , 2004
    • APA

      Tobin, K. W., Meriaudeau, F., & Costa, L. da F. (2004). Quality control by artificial vision. Journal of Electronic Imaging. Springfield: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo.
    • NLM

      Tobin KW, Meriaudeau F, Costa L da F. Quality control by artificial vision. Journal of Electronic Imaging. 2004 ; 13( 3): 409-410.[citado 2024 jul. 06 ]
    • Vancouver

      Tobin KW, Meriaudeau F, Costa L da F. Quality control by artificial vision. Journal of Electronic Imaging. 2004 ; 13( 3): 409-410.[citado 2024 jul. 06 ]

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