Sistema de analise de imagens SEBS por microscopia de força atômica (2014)
Unidade: IFSCSubjects: FILMES FINOS, PROCESSAMENTO DE IMAGENS, POLÍMEROS (MATERIAIS), MICROSCOPIA
ABNT
VALENCIA, Carolina Elisa Guillen. Sistema de analise de imagens SEBS por microscopia de força atômica. 2014. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Carlos, 2014. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-05062014-092420/. Acesso em: 30 jan. 2026.APA
Valencia, C. E. G. (2014). Sistema de analise de imagens SEBS por microscopia de força atômica (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-05062014-092420/NLM
Valencia CEG. Sistema de analise de imagens SEBS por microscopia de força atômica [Internet]. 2014 ;[citado 2026 jan. 30 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-05062014-092420/Vancouver
Valencia CEG. Sistema de analise de imagens SEBS por microscopia de força atômica [Internet]. 2014 ;[citado 2026 jan. 30 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-05062014-092420/
