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Artigo de periodico
Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data (2005)
Ventura, S. D.; Birgin, Ernesto Julian Goldberg ; Martinez, Jesus Manuel; Chambouleyron, Ivan Emílio
Fonte: Journal of Applied Physics. Unidade: IME
Assunto: FÍSICA
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ABNT
VENTURA, S. D. et al. Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data. Journal of Applied Physics, v. 97, n. 4, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.1849431. Acesso em: 04 jul. 2024.
APA
Ventura, S. D., Birgin, E. J. G., Martinez, J. M., & Chambouleyron, I. E. (2005). Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data. Journal of Applied Physics, 97( 4). doi:10.1063/1.1849431
NLM
Ventura SD, Birgin EJG, Martinez JM, Chambouleyron IE. Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data [Internet]. Journal of Applied Physics. 2005 ; 97( 4):[citado 2024 jul. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1849431
Vancouver
Ventura SD, Birgin EJG, Martinez JM, Chambouleyron IE. Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data [Internet]. Journal of Applied Physics. 2005 ; 97( 4):[citado 2024 jul. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1849431
Artigo de periodico
Determination of thickness and optical constants of amorphous silicon films from transmittance data (2000)
Mulato, Marcelo; Chambouleyron, Ivan Emílio; Birgin, Ernesto Julian Goldberg ; Martínez, José Mário
Fonte: Applied Physics Letters. Unidade: IME
Assuntos: FÍSICA, ÓPTICA
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ABNT
MULATO, Marcelo et al. Determination of thickness and optical constants of amorphous silicon films from transmittance data. Applied Physics Letters, v. 77, n. 14, p. 2133-2135, 2000Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.1314299. Acesso em: 04 jul. 2024.
APA
Mulato, M., Chambouleyron, I. E., Birgin, E. J. G., & Martínez, J. M. (2000). Determination of thickness and optical constants of amorphous silicon films from transmittance data. Applied Physics Letters, 77( 14), 2133-2135. doi:10.1063/1.1314299
NLM
Mulato M, Chambouleyron IE, Birgin EJG, Martínez JM. Determination of thickness and optical constants of amorphous silicon films from transmittance data [Internet]. Applied Physics Letters. 2000 ; 77( 14): 2133-2135.[citado 2024 jul. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1314299
Vancouver
Mulato M, Chambouleyron IE, Birgin EJG, Martínez JM. Determination of thickness and optical constants of amorphous silicon films from transmittance data [Internet]. Applied Physics Letters. 2000 ; 77( 14): 2133-2135.[citado 2024 jul. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1314299
Artigo de periodico
Computer-vision based extraction of neural dendograms (1999)
César Júnior, Roberto Marcondes ; Costa, Luciano da Fontoura
Fonte: Journal of Neuroscience Methods. Unidades: IME, IFSC
Assuntos: GEOMETRIA DIFERENCIAL, ANÁLISE NUMÉRICA, MATEMÁTICA APLICADA, CIÊNCIA DA COMPUTAÇÃO, MATEMÁTICA DA COMPUTAÇÃO, INTELIGÊNCIA ARTIFICIAL, COMPUTAÇÃO GRÁFICA, FÍSICA
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ABNT
CÉSAR JÚNIOR, Roberto Marcondes e COSTA, Luciano da Fontoura. Computer-vision based extraction of neural dendograms. Journal of Neuroscience Methods, v. 93, p. 121-131, 1999Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/s0165-0270(99)00120-x. Acesso em: 04 jul. 2024.
APA
César Júnior, R. M., & Costa, L. da F. (1999). Computer-vision based extraction of neural dendograms. Journal of Neuroscience Methods, 93, 121-131. doi:10.1016/s0165-0270(99)00120-x
NLM
César Júnior RM, Costa L da F. Computer-vision based extraction of neural dendograms [Internet]. Journal of Neuroscience Methods. 1999 ; 93 121-131.[citado 2024 jul. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0165-0270(99)00120-x
Vancouver
César Júnior RM, Costa L da F. Computer-vision based extraction of neural dendograms [Internet]. Journal of Neuroscience Methods. 1999 ; 93 121-131.[citado 2024 jul. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0165-0270(99)00120-x

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