Source: Resumos. Conference titles: Encontro de Física do Centro-Oeste. Unidade: IFSC
Subjects: VIDRO, ÉRBIO, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, ESPECTROSCOPIA, TELECOMUNICAÇÕES (APLICAÇÕES)
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ABNT
OLIVEIRA, Alexandre Miranda de et al. Caracterização estrutural e óptica de pós do sistema (x/2)'Y IND.2''O IND.3'-(x/2)'Al IND.2''O IND.3'-(1-x)Si'O IND.2' dopados com Er para aplicação em fotônica. 2010, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física - SBF, 2010. . Acesso em: 19 jun. 2024.APA
Oliveira, A. M. de, Carvalho, J. F., Maia, L. J. Q., Siu Li, M., & Hernandes, A. C. (2010). Caracterização estrutural e óptica de pós do sistema (x/2)'Y IND.2''O IND.3'-(x/2)'Al IND.2''O IND.3'-(1-x)Si'O IND.2' dopados com Er para aplicação em fotônica. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física - SBF.NLM
Oliveira AM de, Carvalho JF, Maia LJQ, Siu Li M, Hernandes AC. Caracterização estrutural e óptica de pós do sistema (x/2)'Y IND.2''O IND.3'-(x/2)'Al IND.2''O IND.3'-(1-x)Si'O IND.2' dopados com Er para aplicação em fotônica. Resumos. 2010 ;[citado 2024 jun. 19 ]Vancouver
Oliveira AM de, Carvalho JF, Maia LJQ, Siu Li M, Hernandes AC. Caracterização estrutural e óptica de pós do sistema (x/2)'Y IND.2''O IND.3'-(x/2)'Al IND.2''O IND.3'-(1-x)Si'O IND.2' dopados com Er para aplicação em fotônica. Resumos. 2010 ;[citado 2024 jun. 19 ]
