Source: Anais. Conference titles: Reunião Anual da Sociedade Brasileira de Química. Unidade: IQSC
Subjects: ELETROFORESE, QUÍMICA ANALÍTICA
ABNT
LIMA, Renato S et al. Dopagem da camada dielétrica: uma nova alternativa para aumento da sensibilidade em condutometria sem contato em microchips. 2010, Anais.. São Paulo: SBQ, 2010. . Acesso em: 18 nov. 2024.APA
Lima, R. S., Segato, T. P., Coltro, W. K. T., & Carrilho, E. (2010). Dopagem da camada dielétrica: uma nova alternativa para aumento da sensibilidade em condutometria sem contato em microchips. In Anais. São Paulo: SBQ.NLM
Lima RS, Segato TP, Coltro WKT, Carrilho E. Dopagem da camada dielétrica: uma nova alternativa para aumento da sensibilidade em condutometria sem contato em microchips. Anais. 2010 ;[citado 2024 nov. 18 ]Vancouver
Lima RS, Segato TP, Coltro WKT, Carrilho E. Dopagem da camada dielétrica: uma nova alternativa para aumento da sensibilidade em condutometria sem contato em microchips. Anais. 2010 ;[citado 2024 nov. 18 ]