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Trabalho de evento
Computation of the minimum voltage stability margin considering loading uncertainties and contingency analysis (2023)
Nascimento, Matheus Rosa; Ramos, Flávio Augusto Spegiorin; Almeida, Lucas C.; Gonçalves, Natali V. C.; Pavani, Ahda Pionkoski Grilo ; Ramos, Rodrigo Andrade
Source: Proceedings. Conference titles: IEEE Power & Energy Society General Meeting - PESGM. Unidades: EESC, FD
Subjects: POTENCIAL ELÉTRICO, POTENCIAL ELÉTRICO, SISTEMAS ELÉTRICOS DE POTÊNCIA, ENGENHARIA ELÉTRICA
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ABNT
NASCIMENTO, Matheus Rosa et al. Computation of the minimum voltage stability margin considering loading uncertainties and contingency analysis. 2023, Anais.. Piscataway, NJ, USA: Escola de Engenharia de São Carlos, Universidade de São Paulo, 2023. Disponível em: https://dx.doi.org/10.1109/PESGM52003.2023.10252463. Acesso em: 15 nov. 2024.
APA
Nascimento, M. R., Ramos, F. A. S., Almeida, L. C., Gonçalves, N. V. C., Pavani, A. P. G., & Ramos, R. A. (2023). Computation of the minimum voltage stability margin considering loading uncertainties and contingency analysis. In Proceedings. Piscataway, NJ, USA: Escola de Engenharia de São Carlos, Universidade de São Paulo. doi:10.1109/PESGM52003.2023.10252463
NLM
Nascimento MR, Ramos FAS, Almeida LC, Gonçalves NVC, Pavani APG, Ramos RA. Computation of the minimum voltage stability margin considering loading uncertainties and contingency analysis [Internet]. Proceedings. 2023 ;[citado 2024 nov. 15 ] Available from: https://dx.doi.org/10.1109/PESGM52003.2023.10252463
Vancouver
Nascimento MR, Ramos FAS, Almeida LC, Gonçalves NVC, Pavani APG, Ramos RA. Computation of the minimum voltage stability margin considering loading uncertainties and contingency analysis [Internet]. Proceedings. 2023 ;[citado 2024 nov. 15 ] Available from: https://dx.doi.org/10.1109/PESGM52003.2023.10252463
Artigo de periodico
Test systems for voltage stability studies (2020)
Van Cutsem, Thierry; Glavic, Mevludin; Rosehart, William; Canizares, Claudio; Kanatas, Mario; Lima, Leonardo; Milano, Federico; Papangelis, Lampros; Ramos, Rodrigo Andrade ; Santos, Jhonatan Andrade dos; Tamimi, Behnam; Taranto, Glauco; Vournas, Costas
Source: IEEE Transactions on Power Systems. Unidade: EESC
Subjects: POTENCIAL ELÉTRICO, ENGENHARIA ELÉTRICA
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ABNT
VAN CUTSEM, Thierry et al. Test systems for voltage stability studies. IEEE Transactions on Power Systems, v. 35, n. 5, p. Se 2020, 2020Tradução . . Disponível em: http://dx.doi.org/10.1109/TPWRS.2020.2976834. Acesso em: 15 nov. 2024.
APA
Van Cutsem, T., Glavic, M., Rosehart, W., Canizares, C., Kanatas, M., Lima, L., et al. (2020). Test systems for voltage stability studies. IEEE Transactions on Power Systems, 35( 5), Se 2020. doi:10.1109/TPWRS.2020.2976834
NLM
Van Cutsem T, Glavic M, Rosehart W, Canizares C, Kanatas M, Lima L, Milano F, Papangelis L, Ramos RA, Santos JA dos, Tamimi B, Taranto G, Vournas C. Test systems for voltage stability studies [Internet]. IEEE Transactions on Power Systems. 2020 ; 35( 5): Se 2020.[citado 2024 nov. 15 ] Available from: http://dx.doi.org/10.1109/TPWRS.2020.2976834
Vancouver
Van Cutsem T, Glavic M, Rosehart W, Canizares C, Kanatas M, Lima L, Milano F, Papangelis L, Ramos RA, Santos JA dos, Tamimi B, Taranto G, Vournas C. Test systems for voltage stability studies [Internet]. IEEE Transactions on Power Systems. 2020 ; 35( 5): Se 2020.[citado 2024 nov. 15 ] Available from: http://dx.doi.org/10.1109/TPWRS.2020.2976834
Trabalho de evento
On the impact of non-synchronous devices over the critical clearing time of low-inertia systems (2020)
Céu, Julia R.; Jónsdóttir, Guðrún M.; Milano, Federico; Ramos, Rodrigo Andrade
Source: Proceedings. Conference titles: IEEE International Conference on Environment and Electrical Engineering - EEEIC. Unidade: EESC
Subjects: ENERGIA, FONTES ALTERNATIVAS DE ENERGIA, ENGENHARIA ELÉTRICA
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ABNT
CÉU, Julia R. et al. On the impact of non-synchronous devices over the critical clearing time of low-inertia systems. 2020, Anais.. Los Alamitos, CA, USA: Escola de Engenharia de São Carlos, Universidade de São Paulo, 2020. Disponível em: http://dx.doi.org/10.1109/EEEIC/ICPSEurope49358.2020.9160557. Acesso em: 15 nov. 2024.
APA
Céu, J. R., Jónsdóttir, G. M., Milano, F., & Ramos, R. A. (2020). On the impact of non-synchronous devices over the critical clearing time of low-inertia systems. In Proceedings. Los Alamitos, CA, USA: Escola de Engenharia de São Carlos, Universidade de São Paulo. doi:10.1109/EEEIC/ICPSEurope49358.2020.9160557
NLM
Céu JR, Jónsdóttir GM, Milano F, Ramos RA. On the impact of non-synchronous devices over the critical clearing time of low-inertia systems [Internet]. Proceedings. 2020 ;[citado 2024 nov. 15 ] Available from: http://dx.doi.org/10.1109/EEEIC/ICPSEurope49358.2020.9160557
Vancouver
Céu JR, Jónsdóttir GM, Milano F, Ramos RA. On the impact of non-synchronous devices over the critical clearing time of low-inertia systems [Internet]. Proceedings. 2020 ;[citado 2024 nov. 15 ] Available from: http://dx.doi.org/10.1109/EEEIC/ICPSEurope49358.2020.9160557

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