Assunto: ENGENHARIA ELÉTRICA
ABNT
SANTOS, Jarbas Tavares dos. Caracterização por microscopia eletrônica de transmissão de camadas de silicetos de ferro superficiais e enterradas formadas por técnicas de crescimento epitaxial. 1996. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 1996. . Acesso em: 10 out. 2024.APA
Santos, J. T. dos. (1996). Caracterização por microscopia eletrônica de transmissão de camadas de silicetos de ferro superficiais e enterradas formadas por técnicas de crescimento epitaxial (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo.NLM
Santos JT dos. Caracterização por microscopia eletrônica de transmissão de camadas de silicetos de ferro superficiais e enterradas formadas por técnicas de crescimento epitaxial. 1996 ;[citado 2024 out. 10 ]Vancouver
Santos JT dos. Caracterização por microscopia eletrônica de transmissão de camadas de silicetos de ferro superficiais e enterradas formadas por técnicas de crescimento epitaxial. 1996 ;[citado 2024 out. 10 ]