Silva, Geisiane Rosa da; Sanches, Edgar Aparecido; Mascarenhas, Yvonne Primerano 
Source: Caderno de Resumos. Conference titles: Semana do Instituto de Física de São Carlos - SIFSC. Unidade: IFSC
Subjects: CRISTALOGRAFIA, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, CARBONO
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ABNT
SILVA, Geisiane Rosa da e SANCHES, Edgar Aparecido e MASCARENHAS, Yvonne Primerano. O uso da relação de Scherrer na determinação dos tamanhos dos cristalitos em amostras de carbono grafite micronizadas. 2011, Anais.. São Carlos: Universidade de São Paulo - USP, Instituto de Física de São Carlos - IFSC, 2011. . Acesso em: 16 nov. 2024.APA
Silva, G. R. da, Sanches, E. A., & Mascarenhas, Y. P. (2011). O uso da relação de Scherrer na determinação dos tamanhos dos cristalitos em amostras de carbono grafite micronizadas. In Caderno de Resumos. São Carlos: Universidade de São Paulo - USP, Instituto de Física de São Carlos - IFSC.NLM
Silva GR da, Sanches EA, Mascarenhas YP. O uso da relação de Scherrer na determinação dos tamanhos dos cristalitos em amostras de carbono grafite micronizadas. Caderno de Resumos. 2011 ;[citado 2024 nov. 16 ]Vancouver
Silva GR da, Sanches EA, Mascarenhas YP. O uso da relação de Scherrer na determinação dos tamanhos dos cristalitos em amostras de carbono grafite micronizadas. Caderno de Resumos. 2011 ;[citado 2024 nov. 16 ]
