Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Quimica Analitica. Unidade: FFCLRP
Assunto: QUÍMICA ANALÍTICA
ABNT
SILVA, L. A. et al. Analise por mev, edx, xps e raio x da superficie de eletrodos recem-preparados de oxidos ternarios: 'IR''O IND.2'-'TI''O IND.2'-'PT''O IND.X'. 1995, Anais.. Belo Horizonte: Faculdade de Filosofia, Ciências e Letras de Ribeirão Preto, Universidade de São Paulo, 1995. . Acesso em: 01 jun. 2024.APA
Silva, L. A., Alves, V. A., Castro, S. C., Trasatti, S., & Boodts, J. F. C. (1995). Analise por mev, edx, xps e raio x da superficie de eletrodos recem-preparados de oxidos ternarios: 'IR''O IND.2'-'TI''O IND.2'-'PT''O IND.X'. In Resumos. Belo Horizonte: Faculdade de Filosofia, Ciências e Letras de Ribeirão Preto, Universidade de São Paulo.NLM
Silva LA, Alves VA, Castro SC, Trasatti S, Boodts JFC. Analise por mev, edx, xps e raio x da superficie de eletrodos recem-preparados de oxidos ternarios: 'IR''O IND.2'-'TI''O IND.2'-'PT''O IND.X'. Resumos. 1995 ;[citado 2024 jun. 01 ]Vancouver
Silva LA, Alves VA, Castro SC, Trasatti S, Boodts JFC. Analise por mev, edx, xps e raio x da superficie de eletrodos recem-preparados de oxidos ternarios: 'IR''O IND.2'-'TI''O IND.2'-'PT''O IND.X'. Resumos. 1995 ;[citado 2024 jun. 01 ]