Application of atomic force microscopy on adsorption process: characterization and modeling (2004)
Source: Programa e Livro de Resumos. Conference titles: Encontro da Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat. Unidade: IFSC
Subjects: POLÍMEROS (MATERIAIS), FILMES FINOS, ESPECTROSCOPIA RAMAN, METAIS
ABNT
LEITE, F. L. et al. Application of atomic force microscopy on adsorption process: characterization and modeling. 2004, Anais.. São Carlos: SBPMat, 2004. . Acesso em: 01 jul. 2024.APA
Leite, F. L., Herrmann, P. S. de P., Borato, C. E., Oliveira Junior, O. N. de, & Mattoso, L. H. C. (2004). Application of atomic force microscopy on adsorption process: characterization and modeling. In Programa e Livro de Resumos. São Carlos: SBPMat.NLM
Leite FL, Herrmann PS de P, Borato CE, Oliveira Junior ON de, Mattoso LHC. Application of atomic force microscopy on adsorption process: characterization and modeling. Programa e Livro de Resumos. 2004 ;[citado 2024 jul. 01 ]Vancouver
Leite FL, Herrmann PS de P, Borato CE, Oliveira Junior ON de, Mattoso LHC. Application of atomic force microscopy on adsorption process: characterization and modeling. Programa e Livro de Resumos. 2004 ;[citado 2024 jul. 01 ]