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Artigo de periodico
Montagem e caracterização do sistema de deposição assistida por feixe de íons (2006)
Lopes, K C; Matsuoka, Masao; Sucasaire, W; Mittani, Juan Carlos Ramirez; Perego, C C; Tromba, Antonio Carlos; Morais, O B de; Meira, A O R
Source: Revista Brasileira de Aplicações de Vácuo. Unidade: IF
Subjects: FEIXES, ÍONS
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ABNT
LOPES, K C et al. Montagem e caracterização do sistema de deposição assistida por feixe de íons. Revista Brasileira de Aplicações de Vácuo, v. 25, n. 3, p. 131-134, 2006Tradução . . Disponível em: http://www.sbvacuo.org.br/rbav/revistavol253/25_3_131.pdf. Acesso em: 12 out. 2024.
APA
Lopes, K. C., Matsuoka, M., Sucasaire, W., Mittani, J. C. R., Perego, C. C., Tromba, A. C., et al. (2006). Montagem e caracterização do sistema de deposição assistida por feixe de íons. Revista Brasileira de Aplicações de Vácuo, 25( 3), 131-134. Recuperado de http://www.sbvacuo.org.br/rbav/revistavol253/25_3_131.pdf
NLM
Lopes KC, Matsuoka M, Sucasaire W, Mittani JCR, Perego CC, Tromba AC, Morais OB de, Meira AOR. Montagem e caracterização do sistema de deposição assistida por feixe de íons [Internet]. Revista Brasileira de Aplicações de Vácuo. 2006 ; 25( 3): 131-134.[citado 2024 out. 12 ] Available from: http://www.sbvacuo.org.br/rbav/revistavol253/25_3_131.pdf
Vancouver
Lopes KC, Matsuoka M, Sucasaire W, Mittani JCR, Perego CC, Tromba AC, Morais OB de, Meira AOR. Montagem e caracterização do sistema de deposição assistida por feixe de íons [Internet]. Revista Brasileira de Aplicações de Vácuo. 2006 ; 25( 3): 131-134.[citado 2024 out. 12 ] Available from: http://www.sbvacuo.org.br/rbav/revistavol253/25_3_131.pdf
Trabalho de evento-resumo
Caracterização de filmes finos de nitreto de índio formados por deposição assistida por feixe de íons (2005)
Lopes, K. C.; Matsuoka, M; Sucasaire, W; Mittani, J C R; Avanci, L H; Chubaci, J F D; Salvadori, M C B S; Leite, J. R.; Sant'Ana, A. C. de; Temperini, Márcia Laudelina Arruda ; Freitas, J. A.
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidades: IF, IQ
Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, FILMES FINOS, SEMICONDUTORES, FEIXES
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ABNT
LOPES, K. C. et al. Caracterização de filmes finos de nitreto de índio formados por deposição assistida por feixe de íons. 2005, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2005. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R1205-1.pdf. Acesso em: 12 out. 2024.
APA
Lopes, K. C., Matsuoka, M., Sucasaire, W., Mittani, J. C. R., Avanci, L. H., Chubaci, J. F. D., et al. (2005). Caracterização de filmes finos de nitreto de índio formados por deposição assistida por feixe de íons. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R1205-1.pdf
NLM
Lopes KC, Matsuoka M, Sucasaire W, Mittani JCR, Avanci LH, Chubaci JFD, Salvadori MCBS, Leite JR, Sant'Ana AC de, Temperini MLA, Freitas JA. Caracterização de filmes finos de nitreto de índio formados por deposição assistida por feixe de íons [Internet]. Resumos. 2005 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R1205-1.pdf
Vancouver
Lopes KC, Matsuoka M, Sucasaire W, Mittani JCR, Avanci LH, Chubaci JFD, Salvadori MCBS, Leite JR, Sant'Ana AC de, Temperini MLA, Freitas JA. Caracterização de filmes finos de nitreto de índio formados por deposição assistida por feixe de íons [Internet]. Resumos. 2005 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R1205-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Estudo de filmes finos de nitreto de carbono preparados com o método de deposição assistida por feixe de íons (2005)
Sucasaire, W; Matsuoka, M; Lopes, K C; Mittani, J C R; Avanci, L H; Chubaci, J F D; Added, Nemitala; Trava, V; Corat E J
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF
Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, FILMES FINOS, FEIXES, ÍONS
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ABNT
SUCASAIRE, W et al. Estudo de filmes finos de nitreto de carbono preparados com o método de deposição assistida por feixe de íons. 2005, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2005. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0819-1.pdf. Acesso em: 12 out. 2024.
APA
Sucasaire, W., Matsuoka, M., Lopes, K. C., Mittani, J. C. R., Avanci, L. H., Chubaci, J. F. D., et al. (2005). Estudo de filmes finos de nitreto de carbono preparados com o método de deposição assistida por feixe de íons. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0819-1.pdf
NLM
Sucasaire W, Matsuoka M, Lopes KC, Mittani JCR, Avanci LH, Chubaci JFD, Added N, Trava V, Corat E J. Estudo de filmes finos de nitreto de carbono preparados com o método de deposição assistida por feixe de íons [Internet]. Resumos. 2005 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0819-1.pdf
Vancouver
Sucasaire W, Matsuoka M, Lopes KC, Mittani JCR, Avanci LH, Chubaci JFD, Added N, Trava V, Corat E J. Estudo de filmes finos de nitreto de carbono preparados com o método de deposição assistida por feixe de íons [Internet]. Resumos. 2005 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0819-1.pdf
Artigo de periodico
Light element analysis using ERDA method with an ionization chamber (2001)
Added, Nemitala; Chubaci, Jose Fernando Diniz; Matsuoka, Masao; Castro, R A; Radtke, M; Alonso, E; Liguori Neto, Raphael; Rizzutto, Marcia de Almeida; Tabacniks, Manfredo Harri ; Mansano, Ronaldo Domingues
Source: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B. Unidade: IF
Subjects: DETECÇÃO DE PARTÍCULAS, ÍONS, FEIXES, ELASTICIDADE, FILMES FINOS, ESPECTROSCOPIA DE RAIO X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ADDED, Nemitala et al. Light element analysis using ERDA method with an ionization chamber. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, v. 175, p. 787-790, 2001Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/s0168-583x(00)00604-2. Acesso em: 12 out. 2024.
APA
Added, N., Chubaci, J. F. D., Matsuoka, M., Castro, R. A., Radtke, M., Alonso, E., et al. (2001). Light element analysis using ERDA method with an ionization chamber. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 175, 787-790. doi:10.1016/s0168-583x(00)00604-2
NLM
Added N, Chubaci JFD, Matsuoka M, Castro RA, Radtke M, Alonso E, Liguori Neto R, Rizzutto M de A, Tabacniks MH, Mansano RD. Light element analysis using ERDA method with an ionization chamber [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B. 2001 ; 175 787-790.[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0168-583x(00)00604-2
Vancouver
Added N, Chubaci JFD, Matsuoka M, Castro RA, Radtke M, Alonso E, Liguori Neto R, Rizzutto M de A, Tabacniks MH, Mansano RD. Light element analysis using ERDA method with an ionization chamber [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B. 2001 ; 175 787-790.[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0168-583x(00)00604-2

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