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Analisador por injeção em fluxo (2011)
Lopes, Fernando Silva; Toma, Henrique Eisi ; Gutz, Ivano Gebhardt Rolf ; Araki, Koiti ; Angnes, Lúcio ; Martins, Paulo Roberto
Unidade: IQ
Subjects: ANÁLISE POR INJEÇÃO SEQUENCIAL, ADITIVOS ALIMENTARES
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ABNT
LOPES, Fernando Silva et al. Analisador por injeção em fluxo. . Rio de Janeiro: República Federativa do Brasil - Ministério do Desenvolvimento, Indústria e do Comércio Exterior - Instituto Nacional da Propriedade Industrial. . Acesso em: 08 jul. 2024. , 2011
APA
Lopes, F. S., Toma, H. E., Gutz, I. G. R., Araki, K., Angnes, L., & Martins, P. R. (2011). Analisador por injeção em fluxo. Rio de Janeiro: República Federativa do Brasil - Ministério do Desenvolvimento, Indústria e do Comércio Exterior - Instituto Nacional da Propriedade Industrial.
NLM
Lopes FS, Toma HE, Gutz IGR, Araki K, Angnes L, Martins PR. Analisador por injeção em fluxo. 2011 ;[citado 2024 jul. 08 ]
Vancouver
Lopes FS, Toma HE, Gutz IGR, Araki K, Angnes L, Martins PR. Analisador por injeção em fluxo. 2011 ;[citado 2024 jul. 08 ]
Patente
Nanocompósitos de óxido de metal de transição e porfirinas tetrarrutenadas, eletrodos modificados e método para determinar analitos (2007)
Araki, Koiti ; Toma, Henrique Eisi ; Angnes, Lúcio ; Winnischofer, Herbert; Quintino, Maria do Socorro Maia
Unidade: IQ
Subjects: NANOCOMPOSITOS, ELETROQUÍMICA
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ABNT
ARAKI, Koiti et al. Nanocompósitos de óxido de metal de transição e porfirinas tetrarrutenadas, eletrodos modificados e método para determinar analitos. . Rio de Janeiro: República Federativa do Brasil - Ministério do Desenvolvimento, Indústria e do Comércio Exterior - Instituto Nacional da Propriedade Industrial. . Acesso em: 08 jul. 2024. , 2007
APA
Araki, K., Toma, H. E., Angnes, L., Winnischofer, H., & Quintino, M. do S. M. (2007). Nanocompósitos de óxido de metal de transição e porfirinas tetrarrutenadas, eletrodos modificados e método para determinar analitos. Rio de Janeiro: República Federativa do Brasil - Ministério do Desenvolvimento, Indústria e do Comércio Exterior - Instituto Nacional da Propriedade Industrial.
NLM
Araki K, Toma HE, Angnes L, Winnischofer H, Quintino M do SM. Nanocompósitos de óxido de metal de transição e porfirinas tetrarrutenadas, eletrodos modificados e método para determinar analitos. 2007 ;[citado 2024 jul. 08 ]
Vancouver
Araki K, Toma HE, Angnes L, Winnischofer H, Quintino M do SM. Nanocompósitos de óxido de metal de transição e porfirinas tetrarrutenadas, eletrodos modificados e método para determinar analitos. 2007 ;[citado 2024 jul. 08 ]
Patente
Detector para análise de sulfito, eletrodo nanoestruturado, com múltiplas bicamadas de porfirinas e método para fabricação do referido eletrodo (2005)
Araki, Koiti ; Toma, Henrique Eisi ; Angnes, Lúcio ; Winnischofer, Herbert
Unidade: IQ
Subjects: ELETROQUÍMICA, MATERIAIS NANOESTRUTURADOS
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ABNT
ARAKI, Koiti et al. Detector para análise de sulfito, eletrodo nanoestruturado, com múltiplas bicamadas de porfirinas e método para fabricação do referido eletrodo. . Rio de Janeiro: Republica Federativa do Brasil - Ministério do Desenvolvimento, Indústria e do Comércio Exterior - Instituto Nacional da Propriedade Industrial. . Acesso em: 08 jul. 2024. , 2005
APA
Araki, K., Toma, H. E., Angnes, L., & Winnischofer, H. (2005). Detector para análise de sulfito, eletrodo nanoestruturado, com múltiplas bicamadas de porfirinas e método para fabricação do referido eletrodo. Rio de Janeiro: Republica Federativa do Brasil - Ministério do Desenvolvimento, Indústria e do Comércio Exterior - Instituto Nacional da Propriedade Industrial.
NLM
Araki K, Toma HE, Angnes L, Winnischofer H. Detector para análise de sulfito, eletrodo nanoestruturado, com múltiplas bicamadas de porfirinas e método para fabricação do referido eletrodo. 2005 ;[citado 2024 jul. 08 ]
Vancouver
Araki K, Toma HE, Angnes L, Winnischofer H. Detector para análise de sulfito, eletrodo nanoestruturado, com múltiplas bicamadas de porfirinas e método para fabricação do referido eletrodo. 2005 ;[citado 2024 jul. 08 ]

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