Estudo de propriedades de filmes finos de óxidos magnéticos diluídos (2024)
- Authors:
- Autor USP: SPAZIANI, RAFAEL FUNICELLI - IF
- Unidade: IF
- Sigla do Departamento: FMT
- DOI: 10.11606/D.43.2024.tde-15012026-162657
- Subjects: PROPRIEDADES DOS SÓLIDOS; FILMES FINOS; ESTRUTURA DOS SÓLIDOS; DIFRAÇÃO POR RAIOS X
- Keywords: BAND GAP; MAGNETRON SPUTTERING; ÓXIDO DE ZINCO; THIN FILM; X-Ray Diffraction; Zinc Oxide
- Language: Português
- Abstract: O objetivo deste trabalho foi crescer e caracterizar filmes finos de ZnO puros e dopados com Co por magnetron sputtering. Os filmes foram crescidos em uma atmosfera composta de argônio e oxigênio à 400C por 90 minutos. A quantidade de Co foi controlada alterando-se a potência de uma fonte RF. As amostras foram caracterizadas usando: (i) difração de raios-X para verificar a qualidade cristalina e o tamanho dos cristais; (ii) microscopia de força atômica para análise da superfície e medir espessura; (iii) espectroscopia de reflectância para medir gap de energia; (iv) espectroscopia por dispersão de energia para uma análise quantitativa da composição química da amostra; e (v) espalhamento de raios-X à ângulos pequenos para obter informações mais finas sobre a estrutura e as partículas de ZnO. Uma amostra foi depositada sem Co e outras três foram crescidas aumentando a potência no Co de 20 W a 40 W. A amostra depositada com potência 20 W não apresentou quantidades detectáveis de cobalto em sua composição enquanto as outras duas possuíam cerca de 0.1 at.% e 0.6 at.% para 30 W e 40 W, respectivamente. Todos os filmes possuíam espessuras por volta de 40 nm exceto pela amostra mais dopada, que tinha cerca de 17.3 nm de espessura. A maioria das amostras possuíam gap de energia de 3.5 eV, aproximadamente, exceto pela amostra mais dopada e menos espessa, que tinha um gap de 3.7 eV.Medidas de espalhamento de raios-X à ângulos pequenos mostraram que os nanocristais nos filmes de ZnO tem formato esférico e que os átomos de Co estão provavelmente localizados na superfície de filmes
- Imprenta:
- Data da defesa: 19.03.2024
- Este periódico é de acesso aberto
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
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ABNT
SPAZIANI, Rafael Funicelli. Estudo de propriedades de filmes finos de óxidos magnéticos diluídos. 2024. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2024. Disponível em: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-15012026-162657/. Acesso em: 26 jan. 2026. -
APA
Spaziani, R. F. (2024). Estudo de propriedades de filmes finos de óxidos magnéticos diluídos (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-15012026-162657/ -
NLM
Spaziani RF. Estudo de propriedades de filmes finos de óxidos magnéticos diluídos [Internet]. 2024 ;[citado 2026 jan. 26 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-15012026-162657/ -
Vancouver
Spaziani RF. Estudo de propriedades de filmes finos de óxidos magnéticos diluídos [Internet]. 2024 ;[citado 2026 jan. 26 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-15012026-162657/
Informações sobre o DOI: 10.11606/D.43.2024.tde-15012026-162657 (Fonte: oaDOI API)
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