Beam test of n-type Silicon pad array detector at PS CERN (2024)
- Authors:
- Autor USP: BREGANT, MARCO - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1088/1748-0221/19/09/P09016
- Subjects: FÍSICA DE PARTÍCULAS; DETETORES
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher: IOP Publishing
- Publisher place: Bristol
- Date published: 2024
- Source:
- Título: Journal of Instrumentation
- Volume/Número/Paginação/Ano: Volume 19, September 2024, P09016
- Status:
- Artigo possui versão em acesso aberto em repositório (Green Open Access)
- Versão do Documento:
- Versão submetida (Pré-print)
- Acessar versão aberta:
-
ABNT
SAWAN, e BREGANT, Marco. Beam test of n-type Silicon pad array detector at PS CERN. Journal of Instrumentation, 2024Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1088/1748-0221/19/09/P09016. Acesso em: 09 maio 2026. -
APA
Sawan,, & Bregant, M. (2024). Beam test of n-type Silicon pad array detector at PS CERN. Journal of Instrumentation. doi:10.1088/1748-0221/19/09/P09016 -
NLM
Sawan, Bregant M. Beam test of n-type Silicon pad array detector at PS CERN [Internet]. Journal of Instrumentation. 2024 ;[citado 2026 maio 09 ] Available from: https://doi.org/10.1088/1748-0221/19/09/P09016 -
Vancouver
Sawan, Bregant M. Beam test of n-type Silicon pad array detector at PS CERN [Internet]. Journal of Instrumentation. 2024 ;[citado 2026 maio 09 ] Available from: https://doi.org/10.1088/1748-0221/19/09/P09016 - Snowmass 2021 white paper instrumentation frontier 05 white paper 1: MPGDs: recent advances and current R&D
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