Surface plasmon resonance spectrometer in the double prism configuration: fast characterization of the thickness and dielectric constant dispersion of thin films (2025)
- Authors:
- Autor USP: ROMERO, ANDRE LUIS DOS SANTOS - IFSC
- Unidade: IFSC
- DOI: 10.1016/j.sna.2024.116067
- Subjects: SENSORES QUÍMICOS; FILMES FINOS; DIELÉTRICOS
- Keywords: SPR spectrometer; Dielectric constant dispersion; Thin films; Double prism configuration; BSA
- Agências de fomento:
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Sensors and Actuators A
- ISSN: 0924-4247
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 381, p. 116067-1-116067-11 + supplementary material, Jan. 2025
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
RODRIGUES, Debora Cristina da Silva et al. Surface plasmon resonance spectrometer in the double prism configuration: fast characterization of the thickness and dielectric constant dispersion of thin films. Sensors and Actuators A, v. 381, n. Ja 2025, p. 116067-1-116067-11 + supplementary material, 2025Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.sna.2024.116067. Acesso em: 30 dez. 2025. -
APA
Rodrigues, D. C. da S., Oliveira, G. F. de, Romero, A. L. dos S., Vieira, N. C. S., & Vivas, M. G. (2025). Surface plasmon resonance spectrometer in the double prism configuration: fast characterization of the thickness and dielectric constant dispersion of thin films. Sensors and Actuators A, 381( Ja 2025), 116067-1-116067-11 + supplementary material. doi:10.1016/j.sna.2024.116067 -
NLM
Rodrigues DC da S, Oliveira GF de, Romero AL dos S, Vieira NCS, Vivas MG. Surface plasmon resonance spectrometer in the double prism configuration: fast characterization of the thickness and dielectric constant dispersion of thin films [Internet]. Sensors and Actuators A. 2025 ; 381( Ja 2025): 116067-1-116067-11 + supplementary material.[citado 2025 dez. 30 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.sna.2024.116067 -
Vancouver
Rodrigues DC da S, Oliveira GF de, Romero AL dos S, Vieira NCS, Vivas MG. Surface plasmon resonance spectrometer in the double prism configuration: fast characterization of the thickness and dielectric constant dispersion of thin films [Internet]. Sensors and Actuators A. 2025 ; 381( Ja 2025): 116067-1-116067-11 + supplementary material.[citado 2025 dez. 30 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.sna.2024.116067 - Sistema experimental automatizado para estudos de Laser Aleatório em plataformas poliméricas flexíveis combinadas a biomateriais
- The integration of cerium oxide nanoparticles in solid-state random laser development
- Advancing 3D direct-laser writing: leveraging optical metalenses for enhanced two-photon polymerization
- Sistema computadorizado para deslocamento de amostra com motor de passo utilizando o L298: aplicação na técnica de varredura-Z
- Metasurface-enabled additive manufacturing via two photon polymerization (Presentation)
- Uso de amplificadores sensíveis à fase para medidas de precisão: obtenção da constante de Faraday com campo magnético alternado ou estático
- Desenvolvimento de um obturador de feixe óptico utilizando um disco rígido de computador
- How the engineering platforms of a material can influence its potentiality as an active means of random laser
- Laser-controlled growth of plasmonic gold nanoparticles in PMMA films for high-resolution optical applications
- Random laser emission tuned by surface diffraction gratings in laser dye doped polymeric resin
Informações sobre o DOI: 10.1016/j.sna.2024.116067 (Fonte: oaDOI API)
Download do texto completo
| Tipo | Nome | Link | |
|---|---|---|---|
 |
3223786.pdf |
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
