Detecção de faltas de alta impedância causadas por contato com solo e vegetação em sistemas de distribuição usando redes neurais artificiais (2023)
- Authors:
- USP affiliated authors: VIEIRA JÚNIOR, JOSÉ CARLOS DE MELO - EESC ; NOZELA, MARCO ANTÔNIO SARTORATO - EESC ; LOPES, GABRIELA NUNES - EESC ; TRONDOLI, LUIZ HENRIQUE PESSÔA DA COSTA - EESC
- Unidade: EESC
- DOI: 10.1109/CBQEE59548.2023.10503780
- Subjects: IMPEDÂNCIA ELÉTRICA; DISTRIBUIÇÃO DE ENERGIA ELÉTRICA; REDES NEURAIS; ENGENHARIA ELÉTRICA
- Agências de fomento:
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher place: Piscataway, NJ, USA
- Date published: 2023
- Conference titles: Brazilian Conference on Power Quality - CBQEE
- Status:
- Nenhuma versão em acesso aberto identificada
-
ABNT
NOZELA, Marco Antonio S. et al. Detecção de faltas de alta impedância causadas por contato com solo e vegetação em sistemas de distribuição usando redes neurais artificiais. 2023, Anais.. Piscataway, NJ, USA: Escola de Engenharia de São Carlos, Universidade de São Paulo, 2023. Disponível em: http://dx.doi.org/10.1109/CBQEE59548.2023.10503780. Acesso em: 02 abr. 2026. -
APA
Nozela, M. A. S., Lopes, G. N., Trondoli, L. H. P. da C., & Vieira Júnior, J. C. de M. (2023). Detecção de faltas de alta impedância causadas por contato com solo e vegetação em sistemas de distribuição usando redes neurais artificiais. In . Piscataway, NJ, USA: Escola de Engenharia de São Carlos, Universidade de São Paulo. doi:10.1109/CBQEE59548.2023.10503780 -
NLM
Nozela MAS, Lopes GN, Trondoli LHP da C, Vieira Júnior JC de M. Detecção de faltas de alta impedância causadas por contato com solo e vegetação em sistemas de distribuição usando redes neurais artificiais [Internet]. 2023 ;[citado 2026 abr. 02 ] Available from: http://dx.doi.org/10.1109/CBQEE59548.2023.10503780 -
Vancouver
Nozela MAS, Lopes GN, Trondoli LHP da C, Vieira Júnior JC de M. Detecção de faltas de alta impedância causadas por contato com solo e vegetação em sistemas de distribuição usando redes neurais artificiais [Internet]. 2023 ;[citado 2026 abr. 02 ] Available from: http://dx.doi.org/10.1109/CBQEE59548.2023.10503780 - High impedance fault location characterized by Fourier, Stockwell and Wavelet transforms
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| Tipo | Nome | Link | |
|---|---|---|---|
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Deteco_de_Faltas_de_Alta_... |
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