Optimum mean location in a poor-capability process (2003)
- Authors:
- Autor USP: HO, LINDA LEE - EP
- Unidade: EP
- DOI: 10.1081/QEN-120024014
- Subjects: ANÁLISE NUMÉRICA; MÉTODO DE MONTE CARLO; MÉTODOS NUMÉRICOS
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Quality Engineering
- ISSN: 1532-4222
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 16, n. 2, p. 257-263, 2003
- Status:
- Artigo possui versão em acesso aberto em repositório (Green Open Access)
- Versão do Documento:
- Versão submetida (Pré-print)
- Acessar versão aberta:
-
ABNT
HO, Linda Lee e QUININO, Roberto da Costa. Optimum mean location in a poor-capability process. Quality Engineering, v. 16, n. 2, p. 257-263, 2003Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1081/QEN-120024014. Acesso em: 07 abr. 2026. -
APA
Ho, L. L., & Quinino, R. da C. (2003). Optimum mean location in a poor-capability process. Quality Engineering, 16( 2), 257-263. doi:10.1081/QEN-120024014 -
NLM
Ho LL, Quinino R da C. Optimum mean location in a poor-capability process [Internet]. Quality Engineering. 2003 ; 16( 2): 257-263.[citado 2026 abr. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1081/QEN-120024014 -
Vancouver
Ho LL, Quinino R da C. Optimum mean location in a poor-capability process [Internet]. Quality Engineering. 2003 ; 16( 2): 257-263.[citado 2026 abr. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1081/QEN-120024014 - Controle on-line por atributos com erros de classificação: uma abordagem econômica com classificações repetidas
- Repetitive tests as an economic alternative procedure to control attributes with diagnosis errors
- A practical approach to interval estimation for the weibull nean lifetime
- Controle on-line por atributos com erros de classificação: uma abordagem econômica com classificações repetidas
- Monitoring process for attributes with quality deterioration and diagnosis errors
- Practical approach to intervel estimation for the weibull mean lifetime
- On a capability index for non-normal processes
- Avaliacao da capacidade de processos: um metodo bayesiano aproximado. (Cd-rom)
- Um índice de capacidade para especificações bilaterais baseado em fração não conforme do processo
- Modelling sensorial characteristics with a logistic regression model
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