Synchrotron XRD and XAS studies of nanocrystalline ZrO2-Y2O3 solid solutions (2011)
- Autores:
- Autores USP: FANTINI, MARCIA CARVALHO DE ABREU - IF ; CRAIEVICH, ALDO FELIX - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1107/S0108767311087502
- Assuntos: FÍSICO-QUÍMICA; CRISTALOGRAFIA; MATERIAIS NANOESTRUTURADOS; DIFRAÇÃO POR RAIOS X; ZIRCÔNIA; ESPALHAMENTO DE RAIOS X A BAIXOS ÂNGULOS
- Idioma: Inglês
- Imprenta:
- Fonte:
- Título: Acta Crystallographica Section A-Foundation and Advances
- ISSN: 2053-2733
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 67, p. C494, Suplemento: S, resumo: MS39.P16, online
- Nome do evento: Congress and General Assembly of the International Union of Crystallography
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo é de acesso aberto
- URL de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: bronze
-
ABNT
FABREGAS, I. O. et al. Synchrotron XRD and XAS studies of nanocrystalline ZrO2-Y2O3 solid solutions. Acta Crystallographica Section A-Foundation and Advances. Chester: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://doi.org/10.1107/S0108767311087502. Acesso em: 04 nov. 2024. , 2011 -
APA
Fabregas, I. O., Reca, N. W. de, Lamas, D. G., Craievich, A. F., & Fantini, M. (2011). Synchrotron XRD and XAS studies of nanocrystalline ZrO2-Y2O3 solid solutions. Acta Crystallographica Section A-Foundation and Advances. Chester: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. doi:10.1107/S0108767311087502 -
NLM
Fabregas IO, Reca NW de, Lamas DG, Craievich AF, Fantini M. Synchrotron XRD and XAS studies of nanocrystalline ZrO2-Y2O3 solid solutions [Internet]. Acta Crystallographica Section A-Foundation and Advances. 2011 ; 67 C494.[citado 2024 nov. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1107/S0108767311087502 -
Vancouver
Fabregas IO, Reca NW de, Lamas DG, Craievich AF, Fantini M. Synchrotron XRD and XAS studies of nanocrystalline ZrO2-Y2O3 solid solutions [Internet]. Acta Crystallographica Section A-Foundation and Advances. 2011 ; 67 C494.[citado 2024 nov. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1107/S0108767311087502 - Electrochromic properties of NiO-based thin films prepared by the sol-gel dip coating
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Informações sobre o DOI: 10.1107/S0108767311087502 (Fonte: oaDOI API)
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