Chemical and physical characterization of memory boards from obsolete computers through optical emission spectrometry and scanning electron microscopy (2019)
- Authors:
- USP affiliated authors: ESPINOSA, DENISE CROCCE ROMANO - EP ; TENÓRIO, JORGE ALBERTO SOARES - EP ; MORAES, VIVIANE TAVARES DE - EP ; CARVALHO, MARIANA ALVES DE - EP
- Unidade: EP
- DOI: 10.4322/2176-1523.20191741
- Subjects: RECICLAGEM DE RESÍDUOS URBANOS; MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA; RESÍDUOS
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração
- ISSN: 2176-1523
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 16, n. 2, p. 212-221, abr./jun. 2019
- Este periódico é de acesso aberto
- Este artigo é de acesso aberto
- URL de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: gold
- Licença: cc-by
-
ABNT
CALDAS, Marcos Paulo Kohler et al. Chemical and physical characterization of memory boards from obsolete computers through optical emission spectrometry and scanning electron microscopy. Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração, v. 16, n. abr./ju 2019, p. 212-221, 2019Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.4322/2176-1523.20191741. Acesso em: 29 dez. 2025. -
APA
Caldas, M. P. K., Carvalho, M. A. de, Moraes, V. T. de, Tenório, J. A. S., & Espinosa, D. C. R. (2019). Chemical and physical characterization of memory boards from obsolete computers through optical emission spectrometry and scanning electron microscopy. Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração, 16( abr./ju 2019), 212-221. doi:10.4322/2176-1523.20191741 -
NLM
Caldas MPK, Carvalho MA de, Moraes VT de, Tenório JAS, Espinosa DCR. Chemical and physical characterization of memory boards from obsolete computers through optical emission spectrometry and scanning electron microscopy [Internet]. Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração. 2019 ; 16( abr./ju 2019): 212-221.[citado 2025 dez. 29 ] Available from: https://doi.org/10.4322/2176-1523.20191741 -
Vancouver
Caldas MPK, Carvalho MA de, Moraes VT de, Tenório JAS, Espinosa DCR. Chemical and physical characterization of memory boards from obsolete computers through optical emission spectrometry and scanning electron microscopy [Internet]. Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração. 2019 ; 16( abr./ju 2019): 212-221.[citado 2025 dez. 29 ] Available from: https://doi.org/10.4322/2176-1523.20191741 - Characterization of lead free printed circuit boards from obsolete computers through SEM EDS
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Informações sobre o DOI: 10.4322/2176-1523.20191741 (Fonte: oaDOI API)
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