Scanning electron microscopy (2017)
- Authors:
- Autor USP: SILVA, MARCELO DE ASSUMPCAO PEREIRA DA - IFSC
- Unidade: IFSC
- DOI: 10.1016/B978-0-323-49778-7.00001-1
- Subjects: NANOTECNOLOGIA; ESPECTROSCOPIA; MICROANÁLISE
- Keywords: Diffraction; Scattering; Spectroscopy; Lithography; Microanalysis; Microscopy; Nanofabrication; Nanomanipulation; Nanomachine; Nanoassembly
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Nanocharacterization techniques
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
SILVA, Marcelo de Assumpção Pereira da e FERRI, Fabio A. Scanning electron microscopy. Nanocharacterization techniques. Tradução . Amsterdam: Elsevier, 2017. . Disponível em: https://doi.org/10.1016/B978-0-323-49778-7.00001-1. Acesso em: 03 jan. 2026. -
APA
Silva, M. de A. P. da, & Ferri, F. A. (2017). Scanning electron microscopy. In Nanocharacterization techniques. Amsterdam: Elsevier. doi:10.1016/B978-0-323-49778-7.00001-1 -
NLM
Silva M de AP da, Ferri FA. Scanning electron microscopy [Internet]. In: Nanocharacterization techniques. Amsterdam: Elsevier; 2017. [citado 2026 jan. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1016/B978-0-323-49778-7.00001-1 -
Vancouver
Silva M de AP da, Ferri FA. Scanning electron microscopy [Internet]. In: Nanocharacterization techniques. Amsterdam: Elsevier; 2017. [citado 2026 jan. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1016/B978-0-323-49778-7.00001-1 - Microscopia de força atômica aplicada a polímeros. (Em CD-ROM)
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Informações sobre o DOI: 10.1016/B978-0-323-49778-7.00001-1 (Fonte: oaDOI API)
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