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Aplicação de modelos de defeitos na geração de conjuntos de teste completos a partir de Sistemas de Transição com Entrada/Saída (2016)

  • Authors:
  • Autor USP: PAIVA, SOFIA LARISSA DA COSTA - ICMC
  • Unidade: ICMC
  • Sigla do Departamento: SSC
  • Subjects: SOFTWARES; ENGENHARIA DE SOFTWARE; LINGUAGEM DE PROGRAMAÇÃO
  • Keywords: Complete test suites; Conjuntos de teste completos; Fault models; Geração de casos de teste; Input/output transition systems; Model-based testing; Modelos de defeitos; Sistemas de transição com entrada/saída; Test case generation; Teste baseado em modelos
  • Language: Português
  • Abstract: O Teste Baseado em Modelos (TBM) emergiu como uma estratégia promissora para minimizar problemas relacionados à falta de tempo e recursos em teste de software e visa verificar se a implementação sob teste está em conformidade com sua especificação. Casos de teste são gerados automaticamente a partir de modelos comportamentais produzidos durante o ciclo de desenvolvimento de software. Entre as técnicas de modelagem existentes, Sistemas de Transição com Entrada/Saída (do inglês, Input/Output Transition Systems - IOTSs), são modelos amplamente utilizados no TBM por serem mais expressivos do que Máquinas de Estado Finito (MEFs). Apesar dos métodos existentes para geração de testes a partir de IOTSs, o problema da seleção de casos de testes é um tópico difícil e importante. Os métodos existentes para IOTS são não-determinísticos, ao contrário da teoria existente para MEFs, que fornece garantia de cobertura completa com base em um modelo de defeitos. Esta tese investiga a aplicação de modelos de defeitos em métodos determinísticos de geração de testes a partir de IOTSs. Foi proposto um método para geração de conjuntos de teste com base no método W para MEFs. O método gera conjuntos de teste de forma determinística além de satisfazer condições de suficiência de cobertura da especificação e de todos os defeitos do domínio de defeitos definido. Estudos empíricos avaliaram a aplicabilidade e eficiência do método proposto: resultados experimentais para analisar o custo de geração deconjuntos de teste utilizando IOTSs gerados aleatoriamente e um estudo de caso com especificações da indústria mostram a efetividade dos conjuntos gerados em relação ao método tradicional de Tretmans.
  • Imprenta:
  • Data da defesa: 16.03.2016
  • Acesso à fonte
    How to cite
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    • ABNT

      PAIVA, Sofia Larissa da Costa; SIMÃO, Adenilso da Silva. Aplicação de modelos de defeitos na geração de conjuntos de teste completos a partir de Sistemas de Transição com Entrada/Saída. 2016.Universidade de São Paulo, São Carlos, 2016. Disponível em: < http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55134/tde-11072016-172020/ >.
    • APA

      Paiva, S. L. da C., & Simão, A. da S. (2016). Aplicação de modelos de defeitos na geração de conjuntos de teste completos a partir de Sistemas de Transição com Entrada/Saída. Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55134/tde-11072016-172020/
    • NLM

      Paiva SL da C, Simão A da S. Aplicação de modelos de defeitos na geração de conjuntos de teste completos a partir de Sistemas de Transição com Entrada/Saída [Internet]. 2016 ;Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55134/tde-11072016-172020/
    • Vancouver

      Paiva SL da C, Simão A da S. Aplicação de modelos de defeitos na geração de conjuntos de teste completos a partir de Sistemas de Transição com Entrada/Saída [Internet]. 2016 ;Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55134/tde-11072016-172020/

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