Ética, técnica e responsabilidade à luz de Hans Jonas: uma reflexão sobre a nanotecnologia (2015)
- Authors:
- Autor USP: MASCARENHAS, YVONNE PRIMERANO - IFSC
- Unidade: IFSC
- Subjects: ÉTICA; RESPONSABILIDADE; CIÊNCIA; NANOTECNOLOGIA
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira para o Progresso da Ciência - SBPC
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 2015
- Source:
- Título do periódico: Anais/Resumos
- ISSN: 2176-1221
- Conference titles: Reunião Anual da SBPC
-
ABNT
MURGO, Amanda C.; MASCARENHAS, Yvonne Primerano. Ética, técnica e responsabilidade à luz de Hans Jonas: uma reflexão sobre a nanotecnologia. Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira para o Progresso da Ciência - SBPC, 2015.Disponível em: -
APA
Murgo, A. C., & Mascarenhas, Y. P. (2015). Ética, técnica e responsabilidade à luz de Hans Jonas: uma reflexão sobre a nanotecnologia. In Anais/Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira para o Progresso da Ciência - SBPC. Recuperado de http://www.sbpcnet.org.br/livro/67ra/resumos/resumos/4398_1917b61dc0dd1c828a42c60911296d0d7.pdf -
NLM
Murgo AC, Mascarenhas YP. Ética, técnica e responsabilidade à luz de Hans Jonas: uma reflexão sobre a nanotecnologia [Internet]. Anais/Resumos. 2015 ;Available from: http://www.sbpcnet.org.br/livro/67ra/resumos/resumos/4398_1917b61dc0dd1c828a42c60911296d0d7.pdf -
Vancouver
Murgo AC, Mascarenhas YP. Ética, técnica e responsabilidade à luz de Hans Jonas: uma reflexão sobre a nanotecnologia [Internet]. Anais/Resumos. 2015 ;Available from: http://www.sbpcnet.org.br/livro/67ra/resumos/resumos/4398_1917b61dc0dd1c828a42c60911296d0d7.pdf - Caracterização quantitativa pelo Método de Rietveld das frações granulométricas do horizonte mais superficial de um solo argiloso
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