High near-infrared emission intensity of Er3+-doped zirconium oxide films on a Si(100) substrate (2013)
- Authors:
- USP affiliated authors: SILVA, MARCELO DE ASSUMPCAO PEREIRA DA - IFSC ; NUNES, LUIZ ANTONIO DE OLIVEIRA - IFSC ; LI, MAXIMO SIU - IFSC ; MAREGA JUNIOR, EUCLYDES - IFSC
- Unidade: IFSC
- DOI: 10.1117/12.2004783
- Subjects: FILMES FINOS; ESPECTROSCOPIA; TERRAS RARAS
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher: International Society for Optical Engineering - SPIE
- Publisher place: Bellingham
- Date published: 2013
- Source:
- Título do periódico: Proceedings of SPIE
- ISSN: 0277-786X
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 8621, p. 86211K-1-86211K-9, 2013
- Conference titles: Optical Components and Materials
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
RIVERA, V. A. G. et al. High near-infrared emission intensity of Er3+-doped zirconium oxide films on a Si(100) substrate. Proceedings of SPIE. Bellingham: International Society for Optical Engineering - SPIE. Disponível em: https://doi.org/10.1117/12.2004783. Acesso em: 19 set. 2024. , 2013 -
APA
Rivera, V. A. G., Ferri, F. A., Clabel H., J. L., Kawamura, M. K., Silva, M. de A. P. da, Nunes, L. A. de O., et al. (2013). High near-infrared emission intensity of Er3+-doped zirconium oxide films on a Si(100) substrate. Proceedings of SPIE. Bellingham: International Society for Optical Engineering - SPIE. doi:10.1117/12.2004783 -
NLM
Rivera VAG, Ferri FA, Clabel H. JL, Kawamura MK, Silva M de AP da, Nunes LA de O, Siu Li M, Marega Júnior E. High near-infrared emission intensity of Er3+-doped zirconium oxide films on a Si(100) substrate [Internet]. Proceedings of SPIE. 2013 ; 8621 86211K-1-86211K-9.[citado 2024 set. 19 ] Available from: https://doi.org/10.1117/12.2004783 -
Vancouver
Rivera VAG, Ferri FA, Clabel H. JL, Kawamura MK, Silva M de AP da, Nunes LA de O, Siu Li M, Marega Júnior E. High near-infrared emission intensity of Er3+-doped zirconium oxide films on a Si(100) substrate [Internet]. Proceedings of SPIE. 2013 ; 8621 86211K-1-86211K-9.[citado 2024 set. 19 ] Available from: https://doi.org/10.1117/12.2004783 - High near-infrared emission intensity of Er3+- doped zirconium oxide films on a Si (100) substrate
- High red emission intensity of Eu:Y2O3 films grown on Si(1 0 0)/Si (1 1 1) by electron beam evaporation
- High emission intensity of 'Er POT. 3+'- doped zirconium films on a Si(100) substrate
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- Absorcao optica e relaxacao dieletrica de ions 'CU POT.+' Em filmes de k'CL'
- Efeito da concentracao de íons 'CU POT.+' nas propriedades estruturais e óticas de filmes de K'BR'
- Influência da temperatura do substrato nas propriedades óticas e estruturais de filmes de 'K''CL':'CU POT.+'
- Influencia da temperatura do substrato nas propriedades oticas e estruturais de filmes de k'CL': 'CU POT.+'
- Ag induced modifications on W 'O IND.3' films studied by AFM, Raman and x-ray photoelectron spectroscopy
Informações sobre o DOI: 10.1117/12.2004783 (Fonte: oaDOI API)
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