Probing the enamel topography after acid erosion by scanning electrochemical microscopy (2012)
- Authors:
- USP affiliated authors: FRANCCI, CARLOS EDUARDO - FO ; BERTOTTI, MAURO - IQ
- Unidades: FO; IQ
- Assunto: ELETROQUÍMICA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: International Journal of Electrochemical Science
- ISSN: 1452-3981
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 7, n. 12, p. 12720-12729, 2012
-
ABNT
CASTRO, Pollyana Souza et al. Probing the enamel topography after acid erosion by scanning electrochemical microscopy. International Journal of Electrochemical Science, v. 7, n. 12, p. 12720-12729, 2012Tradução . . Acesso em: 19 set. 2024. -
APA
Castro, P. S., Dantas, L. M. F., Nishida, A. C., Francci, C. E., & Bertotti, M. (2012). Probing the enamel topography after acid erosion by scanning electrochemical microscopy. International Journal of Electrochemical Science, 7( 12), 12720-12729. -
NLM
Castro PS, Dantas LMF, Nishida AC, Francci CE, Bertotti M. Probing the enamel topography after acid erosion by scanning electrochemical microscopy. International Journal of Electrochemical Science. 2012 ; 7( 12): 12720-12729.[citado 2024 set. 19 ] -
Vancouver
Castro PS, Dantas LMF, Nishida AC, Francci CE, Bertotti M. Probing the enamel topography after acid erosion by scanning electrochemical microscopy. International Journal of Electrochemical Science. 2012 ; 7( 12): 12720-12729.[citado 2024 set. 19 ] - Uso da microscopia eletroquímica de varredura (SECM) no monitoramento do consumo de íons 'H POT. +' em dentes
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