On the electrical conductivity of 'TI'-implanted alumina (2012)
- Authors:
- USP affiliated authors: TEIXEIRA, FERNANDA DE SÁ - IF ; CATTANI, MAURO SERGIO DORSA - IF ; SALVADORI, MARIA CECILIA BARBOSA DA SILVEIRA - IF
- School: IF
- DOI: 10.1063/1.3697900
- Subject: ÍONS
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Journal of Applied Physics
- Volume/Número/Paginação/Ano: v.111, n.6, p. 063714, mar.2012
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
SALVADORI, M C; BROWN, I G; YU, K M; et al. On the electrical conductivity of 'TI'-implanted alumina. Journal of Applied Physics, Menasha, v. 111, n. 6, p. 063714, 2012. DOI: 10.1063/1.3697900. -
APA
Salvadori, M. C., Brown, I. G., Yu, K. M., Phillips, L., Park, H. K., Oks, E. M., et al. (2012). On the electrical conductivity of 'TI'-implanted alumina. Journal of Applied Physics, 111( 6), 063714. doi:10.1063/1.3697900 -
NLM
Salvadori MC, Brown IG, Yu KM, Phillips L, Park HK, Oks EM, Savkin KP, Nikolaev A, Teixeira FS, Cattani MSD. On the electrical conductivity of 'TI'-implanted alumina. Journal of Applied Physics. 2012 ;111( 6): 063714. -
Vancouver
Salvadori MC, Brown IG, Yu KM, Phillips L, Park HK, Oks EM, Savkin KP, Nikolaev A, Teixeira FS, Cattani MSD. On the electrical conductivity of 'TI'-implanted alumina. Journal of Applied Physics. 2012 ;111( 6): 063714. - Desenvolvimento de uma microchave para o controle de abertura e fechamento de microbocais
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Informações sobre o DOI: 10.1063/1.3697900 (Fonte: oaDOI API)
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