Caracterização de diodos semicondutores para aplicação em técnicas especializadas em radioterapia (2011)
- Authors:
- Autor USP: NETTO, THOMAZ GHILARDI - FFCLRP
- Unidade: FFCLRP
- Subjects: RADIOTERAPIA (TÉCNICAS); DOSIMETRIA
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher place: Rio de Janeiro
- Date published: 2011
- Source:
- Título: Revista Brasileira de Cancerologia
- ISSN: 1415-6725
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 57, n. 4, p. 575, res. 62, 2011
- Conference titles: Congresso da Sociedade Brasileira de Radioterapia (SBRT)
-
ABNT
OLIVEIRA, F. F. et al. Caracterização de diodos semicondutores para aplicação em técnicas especializadas em radioterapia. Revista Brasileira de Cancerologia. Rio de Janeiro: Faculdade de Filosofia, Ciências e Letras de Ribeirão Preto, Universidade de São Paulo. . Acesso em: 28 dez. 2025. , 2011 -
APA
Oliveira, F. F., Amaral, L. L., Costa, A. M., & Ghilardi Netto, T. (2011). Caracterização de diodos semicondutores para aplicação em técnicas especializadas em radioterapia. Revista Brasileira de Cancerologia. Rio de Janeiro: Faculdade de Filosofia, Ciências e Letras de Ribeirão Preto, Universidade de São Paulo. -
NLM
Oliveira FF, Amaral LL, Costa AM, Ghilardi Netto T. Caracterização de diodos semicondutores para aplicação em técnicas especializadas em radioterapia. Revista Brasileira de Cancerologia. 2011 ; 57( 4): 575.[citado 2025 dez. 28 ] -
Vancouver
Oliveira FF, Amaral LL, Costa AM, Ghilardi Netto T. Caracterização de diodos semicondutores para aplicação em técnicas especializadas em radioterapia. Revista Brasileira de Cancerologia. 2011 ; 57( 4): 575.[citado 2025 dez. 28 ] - Comparacao de tecnicas radiograficas atraves de simulacao computacional
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