Sistemas silicatos e boratos puros e dopados: pós e filmes finos nanoestruturados para fotônica (2010)
- Authors:
- USP affiliated authors: HERNANDES, ANTONIO CARLOS - IFSC ; MASTELARO, VALMOR ROBERTO - IFSC
- Unidade: IFSC
- Subjects: ÉRBIO; MATERIAIS NANOESTRUTURADOS; FIBRAS ÓPTICAS; VIDRO; FILMES FINOS; ÍONS; LASER
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira de Física - SBF
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 2010
- Source:
- Título: Resumos
- Conference titles: Encontro de Física do Centro-Oeste
-
ABNT
MAIA, Lauro J. Q. et al. Sistemas silicatos e boratos puros e dopados: pós e filmes finos nanoestruturados para fotônica. 2010, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física - SBF, 2010. . Acesso em: 08 out. 2024. -
APA
Maia, L. J. Q., Hernandes, A. C., Mastelaro, V. R., Ribeiro, S. J. L., & Ibanez, A. (2010). Sistemas silicatos e boratos puros e dopados: pós e filmes finos nanoestruturados para fotônica. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física - SBF. -
NLM
Maia LJQ, Hernandes AC, Mastelaro VR, Ribeiro SJL, Ibanez A. Sistemas silicatos e boratos puros e dopados: pós e filmes finos nanoestruturados para fotônica. Resumos. 2010 ;[citado 2024 out. 08 ] -
Vancouver
Maia LJQ, Hernandes AC, Mastelaro VR, Ribeiro SJL, Ibanez A. Sistemas silicatos e boratos puros e dopados: pós e filmes finos nanoestruturados para fotônica. Resumos. 2010 ;[citado 2024 out. 08 ] - Caracterização estrutural de cerâmicas ferroelétricas(Pb,La)Ti'O IND.3' e (Pb,Ba)(Zr,Ti)'O IND.3' através da técnica de espectroscopia de absorção de raios-X (XAS)
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