Elementos-traço em zircão por LA-ICPMS: implantação da rotina analitica e a experiência no desenvolvimento de novos padrões internos (2010)
- Authors:
- USP affiliated authors: ANDRADE, SANDRA - IGC ; JANASI, VALDECIR DE ASSIS - IGC ; ULBRICH, HORSTPETER HERBERTO GUSTAVO JOSE - IGC ; SAYEG, ISAAC JAMIL - IGC
- Unidade: IGC
- Subjects: ZIRCÃO; OLIGOELEMENTOS
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira de Geologia
- Publisher place: Belém
- Date published: 2010
- Source:
- Título: Desenvolvimento e mudanças globais
- Volume/Número/Paginação/Ano: p. 826, 2010
- Conference titles: Congresso Brasileiro de Geologia
-
ABNT
ANDRADE, Sandra et al. Elementos-traço em zircão por LA-ICPMS: implantação da rotina analitica e a experiência no desenvolvimento de novos padrões internos. 2010, Anais.. Belém: Sociedade Brasileira de Geologia, 2010. p. 826. Disponível em: http://www.sbgeo.org.br/home/pages/44. Acesso em: 28 dez. 2025. -
APA
Andrade, S., Janasi, V. de A., Schutesky, M., Sayeg, I. J., & Ulbrich, H. (2010). Elementos-traço em zircão por LA-ICPMS: implantação da rotina analitica e a experiência no desenvolvimento de novos padrões internos. In Desenvolvimento e mudanças globais (p. 826). Belém: Sociedade Brasileira de Geologia. Recuperado de http://www.sbgeo.org.br/home/pages/44 -
NLM
Andrade S, Janasi V de A, Schutesky M, Sayeg IJ, Ulbrich H. Elementos-traço em zircão por LA-ICPMS: implantação da rotina analitica e a experiência no desenvolvimento de novos padrões internos [Internet]. Desenvolvimento e mudanças globais. 2010 ; 826.[citado 2025 dez. 28 ] Available from: http://www.sbgeo.org.br/home/pages/44 -
Vancouver
Andrade S, Janasi V de A, Schutesky M, Sayeg IJ, Ulbrich H. Elementos-traço em zircão por LA-ICPMS: implantação da rotina analitica e a experiência no desenvolvimento de novos padrões internos [Internet]. Desenvolvimento e mudanças globais. 2010 ; 826.[citado 2025 dez. 28 ] Available from: http://www.sbgeo.org.br/home/pages/44 - Procedimentos de correção de drift na determinação dos elementos maiores, menores e traços por ICP-AES com espectrômetro sequencial
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