Procedimentos especialistas para testes padronizados de confiabilidade em dispositivos indicadores de falta (2010)
- Authors:
- Autor USP: SILVA, IVAN NUNES DA - EESC
- Unidade: EESC
- Assunto: DISTRIBUIÇÃO DE ENERGIA ELÉTRICA (INDICADORES)
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: IEEE Sul Brasil
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 2010
- ISBN: 9788599916025
- Source:
- Título: Proceedings
- Conference titles: IEEE/IAS International Conference on Industry Applications
-
ABNT
BACALINI, Marcelo e SILVA, Ivan Nunes da. Procedimentos especialistas para testes padronizados de confiabilidade em dispositivos indicadores de falta. 2010, Anais.. São Paulo: IEEE Sul Brasil, 2010. . Acesso em: 19 fev. 2026. -
APA
Bacalini, M., & Silva, I. N. da. (2010). Procedimentos especialistas para testes padronizados de confiabilidade em dispositivos indicadores de falta. In Proceedings. São Paulo: IEEE Sul Brasil. -
NLM
Bacalini M, Silva IN da. Procedimentos especialistas para testes padronizados de confiabilidade em dispositivos indicadores de falta. Proceedings. 2010 ;[citado 2026 fev. 19 ] -
Vancouver
Bacalini M, Silva IN da. Procedimentos especialistas para testes padronizados de confiabilidade em dispositivos indicadores de falta. Proceedings. 2010 ;[citado 2026 fev. 19 ] - Um modelo para a representação de sistemas externos em estudos de análise de contingência utilizando redes neurais artificiais
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