Magnetic characterization and lithography process using MO-SNOM (2010)
- Authors:
- Autor USP: SANTOS, ANTONIO DOMINGUES DOS - IF
- Unidade: IF
- Assunto: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada
-
ABNT
MAXIMINO, Fábio Lombardi et al. Magnetic characterization and lithography process using MO-SNOM. 2010, Anais.. São Paulo: SBF, 2010. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxiii/sys/resumos/R1072-1.pdf. Acesso em: 22 jan. 2026. -
APA
Maximino, F. L., Santos, J. T., Santos, A. D. dos, & Pojar, M. (2010). Magnetic characterization and lithography process using MO-SNOM. In . São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxiii/sys/resumos/R1072-1.pdf -
NLM
Maximino FL, Santos JT, Santos AD dos, Pojar M. Magnetic characterization and lithography process using MO-SNOM [Internet]. 2010 ;[citado 2026 jan. 22 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxiii/sys/resumos/R1072-1.pdf -
Vancouver
Maximino FL, Santos JT, Santos AD dos, Pojar M. Magnetic characterization and lithography process using MO-SNOM [Internet]. 2010 ;[citado 2026 jan. 22 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxiii/sys/resumos/R1072-1.pdf - Morphological and magnetic characterization of Ni nanoparticles produced by a physical method
- Otimizacao do sinal magneto-optico atraves de um filme dieletrico
- Estudo por ressonancia magnetica nuclear do acoplamento magnetico entre camadas amorfas 'GD''CO IND.2' / y'CO IND.2'
- Magnetometro a efeito kerr em baixas temperaturas
- Magnetômetro a efeito kerr baseado em leds
- Estudo da interação de paredes de domínios com correntes alternadas
- Depth resolved local structure in thin films with perpendicular magnetic anisotropy by grazing incidence X-ray absorption spectroscopy
- Desenvolvimento de um AFM/MFM
- Produção e caracterização de nanopartículas de metais nobres em matriz dielétrica
- Production of magnetoresistive microsensors by the direct write near-field optical lithography
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
