Caracterização e modelamento das propriedades elétricas e ópticas de materiais (2006)
- Autor:
- Autor USP: BASSO, HEITOR CURY - EESC
- Unidade: EESC
- Sigla do Departamento: SEL
- Assunto: ESPECTROSCOPIA ÓPTICA
- Language: Português
- Abstract: Neste texto, é sistematizado o trabalho de pesquisa do autor, envolvendo os principais tópicos abordados em seus trinta anos de vida acadêmica, apresentados em artigos científicos publicados em revistas internacionais com juízes. De forma geral, os trabalhos versam sobre técnicas espectroscópicas de caracterização de materiais, e a discussão destes no texto será acompanhada de uma apresentação das diferentes grandezas físicas estudadas, além de problemas específicos abordados com essas técnicas. Além disso, parte dos trabalhos trata de modelamento aplicado a problemas em materiais, sejam eles originados nas propriedades ópticas ou de formação destes, ou mesmo envolvam as características de dispositivos eletromecânicos. São rapidamente discutidas algumas aplicações tecnológicas aos problemas abordados. Concluindo, o texto evidencia a unidade do trabalho científico do autor, e a relevância deste trabalho em algumas áreas de pesquisa existentes no Departamento de Engenharia Elétrica da Escola de Engenharia de São Carlos – EESC – Universidade de São Paulo
- Imprenta:
- Publisher place: São Carlos
- Date published: 2006
- Data da defesa: 05.12.2006
-
ABNT
BASSO, Heitor Cury. Caracterização e modelamento das propriedades elétricas e ópticas de materiais. 2006. Tese (Livre Docência) – Universidade de São Paulo, São Carlos, 2006. . Acesso em: 28 fev. 2026. -
APA
Basso, H. C. (2006). Caracterização e modelamento das propriedades elétricas e ópticas de materiais (Tese (Livre Docência). Universidade de São Paulo, São Carlos. -
NLM
Basso HC. Caracterização e modelamento das propriedades elétricas e ópticas de materiais. 2006 ;[citado 2026 fev. 28 ] -
Vancouver
Basso HC. Caracterização e modelamento das propriedades elétricas e ópticas de materiais. 2006 ;[citado 2026 fev. 28 ] - Visible photoluminescence in amorphous 'ABO IND. 3' perovskites
- Microdifratometria no estudo quantitativo de materiais
- Application of the rietveld method in the study of the reaction of formation of 'Y IND.2''BA''CU''O IND.5'
- Dispositivos semicondutores: conceitos básicos
- Parity- and spin-forbidden optical transitions of 'Cr POT. +3' in 'Gd'AlO IND. 3'
- Laser-induced absorption decay for detecting carrier lifetime in c-'SI' and porous 'SI'
- Zinc doping effect on y'BA''CU'o
- Montagem otica para medidas com campo magnetico
- Montagem otica para o estudo de materiais uniformemente opacos
- Caracterização de ferroeletretos por pontes autobalanceadas
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